Összekapcsolt mikroszkópia. Gyorsítsa fel a döntéshozatalt!

Ipari mikroszkópia terméksorozat

170 évnyi tapasztalat és páratlan adatfeldolgozási képesség minden készüléken: alkalmazásorientált, összekapcsolt ipari mikroszkópiás megoldásainak széles körű termékkínálatával a ZEISS segít Önnek, hogy az adathalmaz jól használható információvá váljon, és gyorsabban meghozhassa a helyes döntést.

„All-in-focus” (minden fókuszban) megjelenítés valós időben, most először

ZEISS Visioner 1

A hagyományos vizsgálati rendszerek nem nyújtanak elegendő mélységélességet, ennek következtében a minta egyes részei nem lesznek fókuszban. Mindez azt eredményezheti, hogy bizonyos jellemzőket a felhasználó nem vesz észre, munka közben elfárad, így a vizsgálat hiányos maradhat.

A ZEISS Visioner 1 forradalmasítja az optikai vizsgálat és dokumentálás világát. Az egyedülálló Micro-mirror Array Lens System (MALSTM) technológia alkalmazása most először teszi lehetővé a valós idejű, „all-in-focus”, azaz „minden fókuszban” képalkotást – és mostantól mindig.

A képelemzéstől a termelékenységig

Adatfeldolgozás dimenziókon át

A ZEISS Industrial Microscopy sorozattal a ZEISS támogatja az ügyfeleket a mikroszkópiás adatok konzekvens létrehozásában, kezelésében és felhasználásában többfelhasználós környezetekben, több működési részlegen és többféle mikroszkóp típuson keresztül.

Ez lehetővé teszi a felhasználófüggetlen működést, a trendek elemzését, valamint mélyebb betekintést az eredmények kombinálása révén, dimenziókon és modalitásokon át, az adatok megosztásával. Az eredmény: nagyobb termelékenység és pontosabb ipari mikroszkópiás alkalmazások.

  • Jóváhagyás/elutasítás vizuális vizsgálatoknál
  • Hibák és sikertelenségek azonosítása, a kiváltó okok meghatározása
  • Az érdesség és a topográfia jellemzése
  • A részecskeszennyezés nyilvántartása
  • Eltérések azonosítása a kritikus geometriai dimenzióban

Intelligens adatkezelés

az összekapcsolt mikroszkópiához

A ZEN core egységesített felhasználói kezelőfelület lehetővé teszi a felhasználó számára a mikroszkópok azonos módon történő működtetését, a sztereó mikroszkópoktól kezdve a teljesen automatizált csúcsalkalmazásokig. A hatékony szoftvercsomag lehetővé teszi a fény- és elektronmikroszkópia megfeleltetését multimodális munkafolyamatokban, és összekapcsolhatóvá teszi a rendszereket, részlegeket és helyszíneket. A ZEN core nem csupán a mikroszkópos képalkotást képes kezelni. Ez a legátfogóbb csomag, amely képalkotási, szegmentálási, elemzési és adatkapcsolati feladatokat is ellát az összekapcsolt anyagi laboratóriumok multimodális mikroszkópiás rendszereiben.

Munkafolyamat-orientált

A ZEN core lehetővé teszi a mikroszkópiás alkalmazások munkafolyamat-orientált minőségbiztosítását kijelölt
szoftvermodulokkal az egyes alkalmazási területekhez, például műszaki tisztaság elemzése, valamint munkasémák az automatizált képkvantifikáláshoz.

Mobil hozzáférés

A ZEN Data Explorer lehetővé teszi a központi ZEN Data Storage adattárolóban lévő összes adat mobilkészülékről vagy böngészőből történő távoli elérését.

Megbízható adattárolás

A biztonságos adatkezelést és dokumentálást biztosító központi adatbázis bővíthető központi tárolási megoldást kínál az eredmények, módszerek és sablonok használatához.

Összefüggés és összekapcsolhatóság

Korrelatív adatkimenete révén a ZEN core különböző képalkotási módszereken és mikroszkópos technológiákon át is lehetővé teszi a vizsgált területek gyors és könnyű újbóli lokalizálását.

Import külső féltől

A felhasználók külső felektől érkező, akár más gyártmányú mikroszkópokból származó képeket is integrálhatnak és feldolgozhatnak.

Ipari mikroszkópia rendszerek alkalmazási területei

Munkafolyamat-orientált megoldások a hatékony minőségelemzéshez

A ZEISS az ipari megoldások legszélesebb választékát kínálja számos iparági szegmensben: elektronika, járműipar, repülés és űrkutatás, gyógyászati eszközök és additív gyártás. Legyen partnerünk, hogy megoldjuk az Ön konkrét technológiai problémáit, elősegítsük a folyamatait és minimalizáljuk a szükséges időráfordítást átfogó mikroszkópiás portfóliónkkal és célzott szoftvermegoldásainkkal! Használja ki csúcsminőségű képalkotási technikáinkat egyedülálló fény-, röntgen- és elektronmikroszkópiás megoldásainkban!

Hibaelemzés és metallográfia

Hibák kiváltó okainak feltárása

A kihívás

A metallográfia feltárja az anyagok belső szerkezetét. Ha valami nem a tervek szerint megy, hibaelemzésre van szükség a hiba kivizsgálásához, elemzéséhez és dokumentálásához, hogy kiderüljün, milyen ok áll a háttérben.

A ZEISS által kínált előnyök

Az eredmények gyorsabb elérése a ZEN core munkafolyamat-orientált szoftverrel és az eredmények korrelálásával.

Vizuális vizsgálat

Gyors és megismételhető

A kihívás

Az optikai vizsgálat révén a gyártók észrevehetik és leállíthatják a hibákat, amint azok megjelennek. Alapja a gyors és megismételhető képalkotás és megbízható dokumentálás mind az üzemben, mind a minőség-ellenőrző osztályokon.

A ZEISS által kínált előnyök

A ZEISS minden vizsgálati alkalmazáshoz kínál megfelelő mikroszkópot: fénymikroszkópok, pásztázó elektronmikroszkópok, röntgenmikroszkópok.

Optikai mérés

Pontos méréstechnika mikroszkopikus szinten

A kihívás

A termeléstechnológia fejlődésével a gyártóeszközök minden eddiginél kisebb mérettűrésű formákat képesek létrehozni a munkadarabokon. Ezen termékek és alkatrészek minőségének biztosításához a gyártóknak az emberi szem által nem látható mérettartományokban kell mérniük.

A ZEISS által kínált előnyök

A ZEISS páratlan tapasztalattal rendelkezik a mikroszkópok terén és hatalmas a tudásanyaga a méréstechnikában, így sokféle mikroszkóptípussal képes rendkívül pontos mérési eredményeket szolgáltatni.

Felületjellemzés

3D topográfia és érdesség

A kihívás

A bonyolult geometriájú, megmunkált és funkcionális felületeknek a legnagyobb pontossággal kell jellemezni az érdességét és háromdimenziós topográfiáját.

A ZEISS által kínált előnyök

Az alkalmazási terület igényeitől függően a ZEISS taktilis opciókat is kínál a piacvezető mikroszkópiai megoldások mellett, mint például a ZEISS LSM 900 MAT és a ZEISS Smartproof 5.

Részecskeelemzés

Megbízható minőségbiztosítás a műszaki tisztaságért

A kihívás

Az összetevők és alkatrészek tisztasága központi kérdést jelent a legtöbb ipari gyártási folyamatban. A fel nem fedezett részecskeszennyeződések károsan befolyásolhatják a végtermék teljesítményét, élettartamát és megbízhatóságát.

A ZEISS által kínált előnyök

A ZEISS lehetővé teszi, hogy Ön megalapozott döntéseket hozhasson a szennyeződés kiváltó okával kapcsolatban.

A mikrométertől a nanométerig

A ZEISS egyedülállóan átfogó portfóliót kínál az ipari alkalmazásokban használt összes mikroszkóp típusból. Ehhez társul a korrelálható adatkezelés többféle mikroszkóptechnológián keresztül és a ZEN core szoftver munkafolyamat-orientált működése, így a felhasználók kezébe olyan teljes és koherens megoldásrendszert tudunk adni, amelyet csak a ZEISS kínál.

Fény/Konfokális

Röntgentomográfia

Fény/Konfokális

Pásztázó elektron

További információkat szeretne megtudni a ZEISS mikroszkópiai megoldásokról?

Töltse ki az alábbi űrlapot a prospektus letöltéséhez!