ZEISS Mikroszkóp és Röntgen Napok 2023
Budaörs || 2023 november 15-16.
Rendezvényünkön szeretnénk bemutatni, hogy a ZEISS mikroszkópos és röntgen megoldásai milyen innovatív megoldásokkal támogatják minőségügyi kihívásait.
Az esemény a modern, jól felszerelt budaörsi mérőszobánkban kerül megrendezésre érdekes szakmai bemutatókkal, izgalmas nyereményjátékkal, és ismert vendég előadókkal.
A két napos rendezvény esetén Ön választhat, hogy 2023. november 15-én vagy 16-án a délelőtti vagy a délutáni órákban szeretne csatlakozni.
A délelőtt blokkot választó résztvevőink programja 8:30-tól 13:50-ig tart (ebéddel együtt), a délután érkező vendégeink programja 12:00-től 16:00-ig tart.(ebéddel együtt)
Az egyik vendégelőadónk, Felméri Péter, a Dumaszínház humoristája kategóriájában újszerű programmal készül november 15-16-án, amely kiváló szórakozási lehetőséget biztosít a bemutatók mellett.
Kérdése van? Várjuk jelentkezését!
Email: info.metrology.hu@zeiss.com
Telefon: +36 23 880 930
Az alábbi témákban élvezheti bemutatóinkat:
Tisztaságvizsgálati megoldások ||
Folyamatautomatizálás, tisztaságvizsgálati folyamat bemutatása
ZEISS Axio Zoom V16
Sztereo mikroszkópok ||
Hibaanalízis, forrasztások, hegesztések vizsgálata
ZEISS Stemi 508
Digitális mikroszkópok II
Elektronikai alkatrészek vizsgálata
ZEISS Smartzoom 5
Anyagvizsgálati mikroszkópok ||
Metallográfiai vizsgálatok, szemcseméret, repedésvizsgálat
ZEISS Axio Imager Z2m
Elektron mikroszkópok ||
Hibaanalízis, az elektronmikroszkóp mindennapi relevanciája
ZEISS EVO 25 VP
Röntgen megoldások ||
Belső anyaghibák roncsolásmentes vizsgálata
ZEISS BOSELLO MAX
CT megoldások ||
A legmodernebb röntgen és CT ipari minőségbiztosítási megoldások
ZEISS METROTOM
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_2_mikroskopie.ts-1632480519910.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=7cfd50f61bf136248a8d459c20d9a2f8","large":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_2_mikroskopie.ts-1632480519910.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=ff9f138e313db3fd3d8fa6ad917dccc4","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_2_mikroskopie.ts-1632480519910.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=b29eccafc27f751becdf8fa633e51840","full":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_2_mikroskopie.ts-1632480519910.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=010268cf06d2741293e71ce6b1279a5e"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/food_truck_image_.ts-1698155414345.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=e2646f2e828af390beb416d4e3927e86","large":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/food_truck_image_.ts-1698155414345.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=dcf84e9d40d6443a78bec58e26f71e29","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/food_truck_image_.ts-1698155414345.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=6ab8613877cdf49dd9278913b0b73922","full":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/food_truck_image_.ts-1698155414345.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=273daaad260ff94be1a0083fcafe26bf"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_1_technische_sauberkeit.ts-1632480510341.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=9b5b847aa62b1038cc5580ddf1b22a6b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_1_technische_sauberkeit.ts-1632480510341.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=73fb8cd6a080eb295c8a41b3901676f3","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_1_technische_sauberkeit.ts-1632480510341.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=0f045573d16214074af966ee86b379e4","full":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_1_technische_sauberkeit.ts-1632480510341.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=50fc76bd4639242c1366e5ad6b71035c"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_3_connected_microscopy_rem.ts-1632480545679.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=f11e8cae2bdd67101f99910356772eb9","large":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_3_connected_microscopy_rem.ts-1632480545679.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=5158905597c707164d67adae89ac0ecd","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_3_connected_microscopy_rem.ts-1632480545679.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=c011694bd44eb88a021e560cc64ff1ac","full":"https://images.zeiss.com/metrology/at/img/landingpage_aem_station_3_connected_microscopy_rem.ts-1632480545679.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=9bdc3f680143bb7c7c6d9772835a239c"})
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/felmeri_peter.ts-1697809503278.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=29c2f2cb97189fdb81720214c91e632e","large":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/felmeri_peter.ts-1697809503278.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=3176f8810b0416472e22e664d49feb48","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/felmeri_peter.ts-1697809503278.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=442ddb10c7c15b164b477c1856690290","full":"https://images.zeiss.com/metrology/hu/img/zeiss-microscopy-and-x-ray-days-2023/felmeri_peter.ts-1697809503278.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=afe3a0c534715a42a0ebe3e7056f08f8"})