Minőségbiztosítás az akkumulátor biztonsága és teljesítménye érdekében

Kihívások

• A kapacitást, a töltési viselkedést és az akkumulátor élettartamát egyaránt a katódhoz, az anódhoz és a szeparátorhoz felhasznált anyagok határozzák meg
• A cellák teljesítményét nagymértékben befolyásolja ezen anyagok mikroszkopikus szerkezete, valamint a részecskék kémiai összetétele és a szennyeződések

A ZEISS által kínált előnyök

• Nagy felbontású, nagy kontrasztú akkumulátoranyag-elemzés ZEISS pásztázó elektronmikroszkópokkal (SEM)
• Hatékony korrelációs elemzés a fénymikroszkópokat és SEM-eket magában foglaló, szabadalmaztatott korrelációs mikroszkópiás megoldás révén

Kihívások

• Biztonságos és hatékony mintaelőkészítésre és analitikai megoldásokra van szükség a cellaszerkezet minőségének biztosításához és a nagy teljesítmény eléréséhez
• A cellaszerkezet eredeti állapotát a cella szétszerelése nélkül kell elemezni

A ZEISS által kínált előnyök

• Biztonságos mintaelőkészítés és hatékony nagy felületű keresztmetszet-készítés
• Elektronnyaláb-érzékeny akkumulátoranyagok nagy felbontású, nagy kontrasztú elemzése alacsony kV-tartományban a ZEISS GeminiSEM készülékkel
• Nagy felbontású, roncsolásmentes 3D-s cellaszerkezet-elemzés a ZEISS Xradia röntgenmikroszkóppal (XRM)
  

Kihívások

• A bejövő áruk ellenőrzése biztosítja az anyagok egységességét és konzisztenciáját, megelőzve a teljesítményt és hatékonyságot nagymértékben befolyásoló hibákat
• A nyersanyag mikroszerkezetének megjelenítése és ellenőrzése, a katódrészecskék kémiai elemaránya és az anódrészecskék tisztasága egyaránt kulcsfontosságú az akkumulátor meghibásodásának elkerülése érdekében

A ZEISS által kínált előnyök

• A ZEISS GeminiSEM a legmagasabb igényeket is kielégíti a szubnanométeres képalkotás, az analitika és a mintarugalmasság terén
• A teljes mintaelőkészítési munkafolyamat lehetővé teszi a gyors, tiszta és zökkenőmentes képalkotást az anyag mikroszerkezetéről
• Támogatja a nem vezető minták nagy felbontású, nagy kontrasztú képalkotását
  

Kihívások

• Az 5 μm-nél nagyobb idegen részecskék vizsgálata a szállítás és a gyártás során fellépő magas szennyeződési kockázat miatt szükséges
• Mivel az elektróda vágása során sorják keletkezhetnek, a minőség és a költségek egyensúlyának megteremtése érdekében döntő fontosságú megtalálni a pengék cseréjének ideális időpontját

A ZEISS által kínált előnyök

• A ZEISS Technical Cleanliness Analysis szoftvere megkülönbözteti a fémes, a szálas és a nem fémes részecskéket a szennyeződési kockázat becsléséhez
• A ZEISS pásztázó elektronmikroszkópok automatikusan megállapítják az egyes részecskék kémiai összetételét a szennyeződés alapvető okának pontos megállapítása érdekében
• Automatizált sorjafelismerés a gyártási környezetben, és folyamatos visszajelzés a gyártósor felé
  

Kihívások

• A biztonsági kockázatok és a selejt elkerülése érdekében elengedhetetlen a cellaelektródák illeszkedésének és helyzetének ellenőrzése, valamint a belső hibák azonosítása
• Gyors, nagy felbontású vizsgálati ciklusokra van szükség a nagy cellagyártási sebességek kezeléséhez

A ZEISS által kínált előnyök

• Nagy felbontású képalkotás a ZEISS 2D-s és 3D-s röntgenmegoldásaival a túlnyúlások, a sérült elektródák és a hegesztési minőség kezelésére
• Összetett alkatrészek gyors, hatékony és teljeskörű 3D-digitalizálása a legnagyobb részletességgel; olyan rendszerek segítségével, mint a ZEISS METROTOM
• 100%-os automatizált inline kiértékelés a ZEISS BOSELLO hibaészlelés segítségével
  

Kihívások

• A modul mérete és sűrűsége nagy teljesítményű rendszerek használatát teszi szükségessé
• A végső minőség-ellenőrzésnek észlelnie kell a tipikus hibákat, beleértve a fémszennyeződést, a túlnyúlást és az elektródák illeszkedési hibáit

A ZEISS által kínált előnyök

• Mélyre hatoló roncsolásmentes vizsgálat a kompakt és robusztus ZEISS VoluMax 9 titan segítségével
• Ez a CT-megoldás nagy teljesítménytartománya és behatolóereje révén képes kezelni a nagy, súlyos és sűrű modulokat