Skip to main content
Industrial Quality Solutions
Hírlevél Magyarország
vissza
Industrial Quality Solutions
javasolt keresések
népszerű keresések
Belépőszintű hagyományos SEM

ZEISS EVO

Az adatminőséget és az intuitív kezelhetőséget ötvöző, sokoldalú elektronmikroszkóp

A ZEISS EVO család műszerei a nagy teljesítményű pásztázó elektronmikroszkópiát olyan intuitív, felhasználóbarát felhasználói élménnyel ötvözik, amely a szakértők és az új felhasználók számára egyaránt vonzó. Az elérhető opciók széles választékával a ZEISS EVO pontosan az Ön igényeihez igazítható – függetlenül attól, hogy Ön az anyagtudományok vagy a rutinszerű ipari minőségbiztosítás és hibaelemzés területén tevékenykedik.

  • A versatile multipurpose solution
  • Best-in-class usability
  • Excellent image quality
  • Workflow automation and data integrity
ZEISS EVO
Kapcsolat

ZEISS EVO az ipar számára

Emelje vizsgálatait a következő szintre.

A ZEISS EVO a hagyományos belépőszintű rendszer, volfrám vagy LaB6 alapú izzószállal, a napi szinten megismételhető képalkotási feladatokhoz, pl. nagy felbontású anyagvizsgálathoz, nagymértékbenautomatizált és támogató munkafolyamatokkal. A rendszer rugalmasságot kínál a kevésbé nagy kihívást jelentő szerkezetméretekhez. ​

Alkalmazási területek

  • Minőségelemzés és minőség-ellenőrzés
  • Hibaelemzés és fraktográfia
  • Anyagvizsgálat
  • Tisztaságvizsgálat
  • A részecskék morfológiai és kémiai elemzése az ISO 16232 és a VDA 19 1. és 2. szabványoknak megfelelően
  • Nemfémes zárványok elemzése 

ZEISS EVO: Az adatminőséget és az intuitív kezelhetőséget ötvöző, sokoldalú elektronmikroszkóp

Emelje vizsgálatait a következő szintre. A ZEISS EVO számos konfigurációs lehetőséget kínál Önnek, hogy pontosan megfeleljen az Ön ár- és teljesítményigényeinek. A kívánt felbontást az alkalmazáshoz igazíthatja, és három kamraméret közül választhat.

A mintatípusnak megfelelően választhat nagy vákuumot, változtatható nyomást vagy bővített nyomástartománytis. Ezután válassza ki az SE, BSE, EDX, VP és C2D detektorok közül azt, amelyik az Ön alkalmazásához megfelelő. A ZEISS EVO révén megfizethető áron élvezheti az elektronmikroszkópia előnyeit.

Alkalmazási példák

  • Elektronika

    Törmelék és szennyeződés látható az integrált áramkör felszínén. A kép SE detektorral nagy vákuumban, 10 kV értéknél készült.

  • Üzemanyagcellák

    Az üzemanyagcellák jellemzően polimerelektrolit membránokból állnak, amelyeket platinaelektródák közé ágyaznak be. Ezeket a kritikus alkatrészeket alacsony feszültségen kell leképezni, hogy a felületi részletek nagy felbontással legyenek kinyerhetők. Keresztmetszet LaB6 katód használatával (balra) és volfrámkatóddal (jobbra) 3 kV értéknél. Az LaB6 katód használata több felszíni részletet tesz láthatóvá alacsony gyorsítófeszültségek mellett.

  • Horganyzott lágyacél

    Horganyzott lágyacél keresztmetszete, a felvétel ZEISS EVO 15 készüléken SE detektorral készült. Balra: rögzítőgyanta; középen: cinkréteg; jobbra: lágyacél.

  • Anyagvizsgálat röntgenspektroszkópia (EDX) használatával

    Reprezentatív korrodált felületek BSE-felvételei EDS-térképpel: króm, ólom, réz, nikkel, szén és oxigén.

  • Hibaelemzés golyóscsapágy felületén

    A golyóscsapágy felületéről BSE detektorral készített felvétel felfedi a felületi struktúra repedéseit és lepattogzásait.

  • Műszaki tisztaság

    Részecskeszűrő felületén található részecske: műszaki tisztaságvizsgálat és minőség-ellenőrzés.

ZEISS EVO pásztázó elektronmikroszkóp – 10 kiemelt jellemző 90 másodpercben

  • Harmadik féltől származó tartalom letiltva

    A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.
    Ismerje meg, hogy a ZEISS EVO pásztázó elektronmikroszkóp hogyan támogatja a minőségügyi és anyagvizsgáló laboratóriumok rutinvizsgálatait és hibaelemzési feladatait azáltal, hogy még a kezdő felhasználók számára is intuitív képalkotást tesz lehetővé. Az EVO kiemelt jellemzői: - Nagy felbontású képalkotás - Hatékony működés - Kémiai összetétel elemzése - Nagy méretű munkadarabok - Nagy felületű képfelvétel - Nemvezető minták - EDX részecskeelemzés - Automatizált mérések - Intelligens képszegmentálás - Képkorreláció és -megosztás

További ipari alkalmazások:

  • Fázis-, részecske- és hegesztéselemzés
  • Elektronikus alkatrészek, integrált áramkörök, MEMS-eszközök és napelemek vizuális vizsgálata
  • Rézhuzal felületének és kristályszerkezetének vizsgálata
  • Fémkorrózió kivizsgálása
  • Intermetallikus fázisok és fázisátalakulások elemzése
  • Mikrorepedések és a törési szilárdság képfelvétele és elemzése
  • Bevonatokon és kompozit anyagokon végzett vizsgálatok
  • Hegesztési varratok és hőhatásnak kitett zónák megvizsgálása

A ZEISS EVO segítségével megtaláljuk a tűt a szénakazalban.

Johannes Bachmann, az INNIO Csoport anyagvizsgálati szakértője. Töltse le a szórólapot, és olvassa el a teljes történetet.

Megtalálni a tűt a szénakazalban.

Műszaki tisztaság: Az INNIO csoport egy ZEISS-megoldással elemzi a visszamaradó szennyeződésrészecskék kémiai összetételét.

  • Harmadik féltől származó tartalom letiltva

    A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Természetesen fontos, hogy pontosak és megbízhatóak legyenek az eredmények, de gyors megszerzésük is az,

mondja Thomas Schaupp, az SPC akkreditált anyagvizsgáló laboratórium laborvezetője. Tudja meg, hogyan segít a ZEISS EVO és a ZEISS korrelációs mikroszkópiája a vizsgálólaboratóriumnak 30%-kal gyorsabb eredmények elérésében. Töltse le a szórólapot és olvassa el a teljes történetet.

Mikroszkópos alkalmazások minőségbiztosításhoz:

Ügyfélpéldák és brosúra az iparágból az iparág számára
  • ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF előnézeti képe

    ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    16 MB
    Letöltés
  • ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer előnézeti képe

    ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    17 MB
    Letöltés
  • ZEISS SEM Brochure A4 EN PDF előnézeti képe

    ZEISS SEM Brochure A4 EN PDF

    22 MB
    Letöltés

Kapcsolatfelvétel

Érdekli termékeink vagy szolgáltatásaink további megismerése? Örömmel állunk rendelkezésére további részletekkel vagy egy élő bemutatóval, akár távolról, akár személyesen.

ZEISS Metrology Shop

Könnyedén rendelhet szondákat, mérési tartozékokat és egyebeket.

ZEISS Metrology Portal

Hozzáférés a rendszerek és szoftverszolgáltatások teljes skálájához

ZEISS Academy Metrology

Az Ön személyre szabott metrológiai képzése, különböző formátumokban elérhető

További információra van szüksége?

Vegye fel velünk a kapcsolatot. Szakértőink visszahívják Önt.

Űrlap betöltése folyamatban...

/ 4
Következő lépés:
  • Érdeklődés Érdeklődés
  • Személyes adatok
  • A vállalat részletei

Ha további információra van szüksége a ZEISS adatkezeléséről, olvassa el az adatvédelmi tájékoztatót