ZEISS megoldások az anyagvizsgálathoz

Az anyagok összetettek. Az elemzés egyszerű.

Komplexitás egyszerűen. A ZEISS mikroszkópos megoldásaival.

Az anyagvizsgálat feladatai folyamatosan változnak, és a teljesítménnyel szembeni követelmények is egyre nőnek. Az alkatrészek egyre összetettebbek, a bevonatok egyre vékonyabbak. Az elektronikában tapasztalható miniatürizálás fejlődik. Új kompozit anyagokat alkalmaznak, főleg a könnyűszerkezetes megoldásoknál. A fenntartható anyagok és az additív módon gyártott alkatrészek különleges kihívást jelentenek az anyagjellemzés szempontjából. Ezzel egyidejűleg a tűrésmezők általában csökkennek, ami miatt még pontosabb elemzésekre van szükség. Az anyagvizsgáló laboratóriumoknak lépést kell tartaniuk ezekkel a fejlesztésekkel. Egyre inkább sürgeti őket az idő. A ZEISS mikroszkópok, szoftverek és szolgáltatások egyedülálló mélységét kínálja anyagtechnológusok számára a vizsgálatok hatékony megvalósításához. Továbbá a ZEISS mikroszkópiai megoldásai minden felhasználó dolgát különösen megkönnyítik, mivel a mélytanulási algoritmusoknak köszönhetően az eredmények megbízhatóbbak és gyorsabbak, mint valaha.

Hibátlan és hatékony mikroszkópia. A mintától az eredményig.

Az anyagvizsgálatban az érdemi mikroszkópiás eredmények csak akkor garantáltak, ha az előző folyamatlépéseket is hibátlanul végezték el. A ZEISS megfelelő mikroszkópokat biztosít ahhoz, hogy a teljes elemzési folyamat megbízható és hatékony legyen: a mintavételtől és előkészítéstől a képfelvételen át a képfeldolgozásig és kiértékelésig.

	Fémfelület 24-szeres nagyításnál	Polarizációs kontrasztkép a maratási folyamat vizsgálatához	Sötétlátóteres kontrasztkép egy fosteritbevonatról	Automatikus képszegmentáció ZEISS ZEN core-ral	A titán kristályszerkezetének 3D-s ábrázolása
Példák mikroszkópokra	ZEISS Stemi 508 Sztereomikroszkóp 8:1 zoomaránnyal Felbontás: 1 µm	ZEISS Axioscope 5 Részben motorizált fénymikroszkóp kódolt elemekkel Felbontás: 0,7 µm	ZEISS Axio Imager Mikroszkóprendszer automatizált anyagvizsgálathoz Felbontás: 250 nm	ZEISS EVO SEM az ipari minőségelemzéshez Felbontás: 2 nm	ZEISS Versa Röntgenmikroszkóp roncsolásmentes 3D-s képalkotáshoz 3D-s felbontás: 40 nm

Kattintson a kör alakú jelekre a képen, és előbukkan a további részleteket tartalmazó információs ablak.

Példa mikroszkópiai programra anyagvizsgáló laboratórium esetében: fény- és digitális mikroszkópia

ZEISS Stemi 305/508

A minta vizsgálata ZEISS Stemi 305/508 sztereomikroszkópokkal

ZEISS Axio Imager

Automatizált anyagvizsgálat, a teljesen motorizált ZEISS Axio Imager mikroszkóprendszerrel

ZEISS Axio Zoom.V16

Nagy mintamezők, topográfia a ZEISS Axio Zoom.V16 zoom-sztereomikroszkóppal

ZEISS Axiovert 5/7

Nagy méretű és nehéz minták a ZEISS Axiovert 5/7 inverz mikroszkóppal

ZEISS Axioscope

Rutinfeladatok az anyagvizsgáló laboratóriumban a ZEISS Axioscope visszavert fényű fénymikroszkóppal

ZEISS Smartzoom 5

Ismételt mintaelemzések és topográfia a ZEISS Smartzoom 5 automatizált digitális mikroszkóppal

Kattintson a kör alakú jelekre a képen, és előbukkan a további részleteket tartalmazó információs ablak.

Példa mikroszkópiai programra anyagvizsgáló laboratórium esetében: Pásztázó elektron- és röntgenmikroszkópia

ZEISS CrystalCT

Roncsolásmentes 3D-s röntgenes képalkotás nagy felbontású ZEISS CrystalCT röntgenmikroszkóppal

ZEISS Sigma

Kiváló minőségű képalkotás a ZEISS Sigma téremissziós pásztázó elektronmikroszkóppal

ZEISS EVO

Moduláris elektronmikroszkópia a ZEISS EVO pásztázó elektronmikroszkóppal

A ZEISS ZEN core a standardizált megoldás képalkotáshoz, szegmentáláshoz, elemzéshez és az adatok összekapcsolásához az anyagvizsgáló laboratóriumban. Mivel a felhasználói felület az adott feladatnak megfelelően konfigurálható, még a gyakorlatlan felhasználók is könnyen és biztonságosan tudják kezelni a szoftvert. A ZEN core mesterséges intelligenciát használ a manuálisan végzett összetett munkafolyamatok, például a szegmentálás nagy mértékű automatizálására. A fény-, digitális és elektronmikroszkópia egyszerű korrelációja lehetővé teszi a mikroszerkezet mélyebb megértését és a hibaelemzést. A ZEISS ZEN core segítségével több laboratóriumi helyszín is összekapcsolható egymással.

Irányítóközpont minden feladathoz.

ZEISS ZEN core szoftver.

ZEISS ZEN core

A ZEISS ZEN core segítségével a különböző mikroszkóptípusok és laboratóriumi helyszínek összekapcsolhatók egymással.

Gyorsabb és megbízhatóbb tesztelés mélytanulás alkalmazásával

A ZEISS ZEN core automatizált képelemzést biztosít a részecske- és fáziselemzéshez. A mélytanulási technikák jelentősen csökkentik ezen alkalmazások munkaterhelését, és mindig reprodukálhatóan, ugyanazon betanított minták szerint működnek, felhasználótól és helytől függetlenül. Egy alumíniumötvözet mikroszkópos képét mélytanulás alkalmazásával automatikusan szegmentáljuk. Az algoritmus megbízhatóan azonosítja az egyes szemcséket. Az egymáshoz érő és átfedő objektumok szétválaszthatók (példányszegmentálás).

Bővebben

Szegmentálás a ZEISS arivis Cloudból

A legújabb mélytanulási modellek: Kerámia, ausztenites acél, keményfém és rézalapú ötvözet szemcsehatárainak automatikus, mesterséges intelligenciával támogatott meghatározása. Ebben a példában elegendő volt egy mélytanulási modellt betanítani arra, hogy mind a négy anyag szemcsehatárait megbízhatóan felismerje.

Korreláció fény-, digitális és elektronmikroszkópokkal

ZEISS ZEN Connect

Különböző mikroszkópok – egy összehangolt kiértékelés

Számos alkalmazás esetében érdemes ugyanazt a mintát fény- és elektronmikroszkóppal is elemezni. A különböző nagyítási szintek és kontrasztok együttesen mélyebb megértést biztosítanak a minta állapotáról. A ZEISS ZEN Connect segítségével a több forrásból származó képadatokat hatékonyan egymásra helyezheti, és gyorsan válthat az össznézetről a nagy felbontású részletes megjelenítésre. A ZEISS ZEN Connect segítségével minden képadat, beleértve a harmadik féltől származó adatokat is, kényelmesen összehangolható, egymásra helyezhető és összefüggésében megjeleníthető.

ZEISS ZEN core eszköztárak

A ZEISS ZEN core moduláris felépítésű, és egyedileg bővíthető az Ön számára szükséges eszközökkel.

A ZEISS többek között ezeket a kiegészítő eszköztárakat kínálja:

Anyagalkalmazások
Eszközök szemcseméret-, öntöttvas- és többfázisú elemzésekhez, referenciasorozat-összehasonlításokhoz és bevonatvastagság-mérésekhez
MI eszköztár
MI alkalmazáskészlet szegmentáláshoz, objektumosztályozáshoz és képzajmentesítéshez, beleértve a betanítási felületeket is
Eszköztár 2D-s képelemzéshez
2D-s képelemzés automatikus mérőprogramok használatával, beleértve a fejlett feldolgozást is
Fejlesztői eszköztár
Egyedi makrók programozása Python programozási nyelven, a ZEISS ZEN core vezérlése API interfészen keresztül
Adattároló
Központi SQL-alapú képadatbázis az intelligens adatkezeléshez, integrált felhasználó- és hozzáférés-kezeléssel
Összekapcsolási eszköztár
A ZEISS ZEN Connect lehetővé teszi a különböző mikroszkóptípusokból származó multimodális képadatok összehangolását, egymásra helyezését és korrelációját.

Anyagjellemzés a ZEISS ZEN core segítségével

Egyszerű, szabványnak megfelelő kiértékelés

	Műszaki kerámiák, gyógyászati technológia	CFRP kompozit, repülőgép- és űripar	Napelem, megújuló energiák	Szürkeöntvény, eszköztervezés	Acél, eszköztervezés
Alkalmazás	Szemcseméretek Szemcseméret-eloszlás	Több fázis A fázisok aránya százalékosan, területenként	Rétegvastagságok Automatikus élérzékelés	Öntöttvas Az öntvényrészecskék mérete, alakja és eloszlása	Nemfémes zárványok (NMI) Oxidok, szulfidok, nitridek stb. mennyisége és mérete
Magyarázat	Kvantitatív módon, a nemzetközi szabványoknak megfelelően határozhatja meg anyagai kristályszerkezetét.	Ezzel a modullal a fázisokat mind a részecskeméret, mind a fázis felületének százalékos aránya alapján meghatározhatja. Fontos alkalmazás a porozitás vizsgálata.	A bevonatok és lemezek vastagságának vagy az edzett felületek mélységének mérése a minta keresztmetszetében. Automatikusan vagy interaktívan értékelhet összetett bevonatrendszereket, és az eredményeket egyértelmű jegyzőkönyvben adhatja ki.	Az öntöttvasban lévő grafitszemcsék alakjának és méretének teljesen automatikus elemzése és a grafitszemcsék százalékos arányának meghatározása területenként.	Ezzel a modullal megvizsgálhatja az acélban lévő nemfémes zárványokat az acél tisztaságának megállapításához. A szabványokon alapuló automatizált munkafolyamat-megoldás magában foglalja a mintavételt, a zárvány osztályozását és kiértékelését, valamint az eredmény dokumentálását és archiválását.

Példa akkumulátortechnológiára:
Az NCM katódrészecskék szemcseméret-elemzése

Az NCM katódrészecskék csak marginálisan látható szemcsehatárai egy Inlens-EsB detektorral ellátott ZEISS elektronmikroszkóp segítségével fedezhetők fel. Ezután egy MI-algoritmus automatikusan és megbízhatóan szegmentálja a mikroszkópos képet. Az így elemzett kép felhasználható például a szemcseméret-eloszlás meghatározásához.
Példa: Többfázisú elemzés
termikusan szórt bevonaton

A termikusan szórt bevonatok többek között javítják a hordozóanyag korrózióval, hővel vagy kopással szembeni ellenállását. A metallográfiai szempontból előkészített minta porozitása könnyen meghatározható MI-alapú többfázisú elemzés alkalmazásával. A porozitás alapján következtetéseket lehet levonni a szórt bevonat szerkezetére és keménységére vonatkozóan.

Nem is lehetne egyszerűbb, ... és bárki is vizsgálná ezt a mintát, a mérési eredmények mindig ugyanazok lennének.

Stéphane Monod Minőségirányítás az aaraui Smith+Nephew vállalatnál. Olvasson tovább, és töltse le a „Nem is lehetne egyszerűbb” című szórólapot.

Tudjon meg többet a ZEISS materialográfiai megoldásairól

Még intelligensebb. Még időtakarékosabb. ZEISS ZEN Intellesis.
Metallográfia és anyagvizsgálat a ZEISS ZEN core anyagmodulokkal.
Biztosított minőség az acélgyártásban: ZEISS nemfém zárványelemzés (NMI)
ZEISS ZEN Connect: Mikroszkópos képek és elemzési adatok egy átfogó kontextusban.
ZEISS ZEN Data Storage: Központosított adatkezelés hálózatba kapcsolt laboratóriumi környezetekben.

Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Az MI felgyorsítja a mérési folyamatot. Az MI által támogatott ZEISS megoldás automatikusan ellenőrzi az implantátumbevonatokat.

Az MI felgyorsítja a mérési folyamatot
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Az SPC Werkstofflabor GmbH szolgáltatópartnerként támogatja az acélgyártókat és -feldolgozókat – a ZEISS fény- és pásztázó elektronmikroszkópiájának kombinácójára támaszkodva.

Jobb az ellenőrzés: Az SPC ZEISS mikroszkópiával vizsgálja az anyagokat
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

A ZEISS ZEN Intellesis a bevált gépi tanulási technikák, például a pixelosztályozás vagy a mélytanulás alkalmazásával még a nem szakértők számára is lehetővé teszi, hogy megalapozott és reprodukálható szegmentálási eredményeket érjenek el. Egyszerűen töltse be a képet, határozza meg az osztályokat, címkézze fel a pixeleket, tanítsa be a modellt, és végezze el a szegmentálást.

Még intelligensebb. Még időtakarékosabb. ZEISS ZEN Intellesis.
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Hogyan gyorsíthatja fel a metallográfiai vizsgálatokat? Hogyan kezelheti az új anyagokat? Hogyan lehet kerülni a hibás eredményeket? Hogyan biztosíthatja a termelékenységet a laboratóriumban? Funkciók helyett , a ZEN core segítségével Ön egy valódi termelékenységnövelő csomagot kap, és szintet léphet az anyagvizsgálatok terén

Metallográfia és anyagvizsgálat a ZEISS ZEN core anyagmodulokkal.
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Az acél az egyik legszélesebb körben használt anyag a világon. Kis méretük ellenére a nemfém zárványok befolyásolhatják az acél mechanikai tulajdonságait, valamint megmunkálási és korróziós viselkedését. A ZEN Non-Metallic Inclusions a megoldás az Ön számára, hogy gyors és megbízható NMI-elemzést kapjon.

Biztosított minőség az acélgyártásban: ZEISS nemfém zárványelemzés (NMI)
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

A ZEN Connect segítségével egy minta különböző mikroszkópiás képeit és adatait jelenítheti meg – összefüggéseikben, egy közös helyen. Fedezze fel a különböző léptékű képi adatok közötti kapcsolatokat. Az összekapcsolt adatkészletekre vonatkozó integrált jegyzőkönyvezésből is profitálhat.

ZEISS ZEN Connect: Mikroszkópos képek és elemzési adatok egy átfogó kontextusban.
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

A ZEN Data Storage lehetővé teszi a különböző rendszerekből és laboratóriumi helyszínekről származó előzetes eszközbeállítások, munkafolyamatok, képadatok és jegyzőkönyvek központosított kezelését. Válassza szét a mikroszkópos képfelvételt a későbbi elemzési feladatoktól, hogy még hatékonyabbá tegye a laboratóriumi munkát.

ZEISS ZEN Data Storage: Központosított adatkezelés hálózatba kapcsolt laboratóriumi környezetekben.

Természetesen fontos, hogy pontosak és megbízhatóak legyenek az eredmények, de megszerzésük is az.

Thomas Schaupp Az SPC akkreditált anyagvizsgáló laboratórium laborvezetője. Olvasson tovább, és töltse le „Az acél legyen tartós” című szórólapot.

Mikroszkópos alkalmazások az anyagtudományban:

Ügyfélpéldák az iparból az ipar számára

Nem is lehetne egyszerűbb.

A ZEISS mesterséges intelligenciával támogatott megoldása automatikusan ellenőrzi az implantátumok bevonatát.

Bővebben

Az elektromobilitás úttörője.

E-drive: A GROB és a ZEISS hatékonnyá és hibamentessé teszi a gyártást.

Bővebben

Kombinált ZEISS mikroszkópia anyagvizsgálathoz

A ZEISS fény- és pásztázó elektronmikroszkópia kombinációja meggyőző.

Bővebben

Letöltések

ZEISS IMS Materialography Brochure EN

4 MB

Letöltés
ZEISS IQS, Mic and Medical, Success Story, SmithandNephew, EN, PDF

12 MB

Letöltés
ZEISS IQS, Mic and NEV, Success Story, GROB, EN, PDF

13 MB

Letöltés
ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

17 MB

Letöltés

Kapcsolatfelvétel

Érdekli termékeink vagy szolgáltatásaink további megismerése? Örömmel állunk rendelkezésére további részletekkel vagy egy élő bemutatóval, akár távolról, akár személyesen.

ZEISS Metrology Shop

Könnyedén rendelhet szondákat, mérési tartozékokat és egyebeket.

ZEISS Metrology Portal

Hozzáférés a rendszerek és szoftverszolgáltatások teljes skálájához

ZEISS Academy Metrology

Az Ön személyre szabott metrológiai képzése, különböző formátumokban elérhető

További információra van szüksége?

Vegye fel velünk a kapcsolatot. Szakértőink visszahívják Önt.

Űrlap betöltése folyamatban...

Következő lépés:

Érdeklődés Érdeklődés
Személyes adatok
A vállalat részletei

Ha további információra van szüksége a ZEISS adatkezeléséről, olvassa el az adatvédelmi tájékoztatót