Mit jelent a műszaki tisztaság?
A műszaki tisztaság fontos szerepet játszik, főleg azokon a területeken, ahol a komponensek gyártása történik, mint például az elektrotechnikában és az autóiparban. Ha szennyeződés következik be a részecskék szempontjából érzékeny pontokon, az gyorsan működési zavarokhoz vagy akár meghibásodásokhoz is vezethet. Ha egy rendszerben olyan alacsony a maradék szennyeződés szintje, hogy nem keletkezik kár, akkor a rendszer műszakilag tisztának tekintendő.
A műszaki tisztaság különösen fontos a következő ágazatokban:
- Autógyártás és elektromos járművek
- Egészségügyi ipar
- Gépipar
- Additív gyártástechnológia
- Elektrotechnika és akkumulátorgyártás
- Optikai ipar
- Olajok elemzése és hidraulika
Miért olyan fontos a műszaki tisztaság?
A technológia fejlődésének köszönhetően számos iparágban egyre összetettebb rendszerekre van szükség. Az autóiparban már az 1990-es években megfigyelhető volt a komponensek szennyeződéséhez köthető károsodás mértékének növekedése. Rövid időn belül egyértelművé vált, hogy a folyamatokat szabványosítani kell. Az úgynevezett „VDA 19 szabványt”, vagy más néven „Műszaki tisztaság tesztelése – Funkcionális szempontból releváns gépjármű-alkatrészek részecskeszennyeződése” elnevezésű szabványt 2004-ben tették közzé, majd 2015-ben felülvizsgálták a VDA 19 1. rész kiadásban. Nemzetközi szinten az ISO 16232 (2007) szabvány határozza meg az alapvető előírásokat. A 2010-es VDA 19 2. rész iránymutatást tartalmaz a gyártási sorok tisztaságára vonatkozó előírások tekintetében.
A VDA 19 1. rész pontosan meghatározza a szennyeződés különböző típusait. A meghatározások segítségével a szennyeződések tisztasági elemzések és egyéb műszaki tisztasági folyamatok segítségével észlelhetők, majd ezt követően meghozhatók a szükséges döntések. A cél a maradék szennyeződések kialakulásának megelőzése a komponenseken.
Részecskék |
Szálak |
Szilárd testek:
|
|
Korrelációs részecskeelemzés
a folyamatkritikus szennyeződések jellemzése érdekében
A beszállítók, a gyártók és a végfelhasználók folyamatosan magasabb minőségi szabványokat várnak el. Ennélfogva alapvető fontosságú egy olyan, innovatív módon kialakított tisztasági folyamat, amelynek segítségével kiküszöbölhető a funkcionális szempontból releváns alkatrészek és komponensek szennyeződése a gyártási folyamat során. A ZEISS műszaki tisztasági megoldásai azonosítják a szennyeződés kiváltó okát, és lehetővé teszik, hogy gyorsabban meghozzuk a helyes döntést.
Hogyan lehet azonosítani a kiváltó okot? ZEISS műszaki tisztasági megoldások
Növelje a tárgyak osztályozásakor való termelékenységét a ZEISS ZEN alapvető műszaki tisztasági elemzésével.
ZEISS műszaki tisztasági munkamenet kivonással és szűréssel
Optimalizált folyamatok a műszaki tisztasági megoldásoknak köszönhetően
Maximális tisztaság – maximális minőség
A részecskeszennyeződések minden termék hatékonyságának, funkcionalitásának és tartósságának az ellenségei. A kutatások például kimutatták, hogy a hidraulikus és olajjal töltött rendszerek fő meghibásodási okát a részecskeszennyeződés jelenti. Az olaj elemzése segít a karbantartási költségek minimalizálásában és a gép hasznos működési idejének javításában.
A gyártóipar igényeire szabva
A ZEISS műszaki tisztasági megoldásainak kifejlesztése autóipari vállalatokkal és beszállítókkal együttműködve történt. Konkrét elvárásaik voltak a nagy teljesítményű részecskeazonosító és -vizsgáló rendszerekre vonatkozóan, és elvárták, hogy használatuk egyszerű és intuitív legyen.
Ennek eredményeként a ZEISS-megoldások könnyen használhatók, több helyen bármilyen gyártói vagy ipari környezetben alkalmazhatók, továbbá a mikroszkóp használatában nem járatos személyek is üzemeltethetik őket.
A ZEISS műszaki tisztasági megoldásai megfelelnek az érvényben lévő ipari szabványoknak:
Komponensek műszaki tisztasága |
Olajtisztaság |
Orvostechnikai eszközök műszaki tisztasága a gyártási folyamatban |
VDA 19.1 |
ISO 4406 |
VDI 2083, 21. rész |
VDA 19.2 (Illig érték) |
ISO 4007 |
|
ISO 16232 |
DIN 51455 |
|
SAE AS 4059 |
Az összes releváns adatot tartalmazó tisztasági jelentések egyetlen munkalépésben való létrehozása érdekében a ZEISS mikroszkópok és a HYDAC kivonóeszközök egy zökkenőmentes munkafolyamat során adatcserét folytatnak, ezzel egyéni, a termelékenységet növelő jelentést hoznak létre.
Magazinunkban többet tudhat meg arról, hogy a ZEISS miként integrálja a HYDAC készülékek adatait a jelentésekbe. Sikertörténet a műszaki tisztaságról a gépjárműiparban.
A szennyeződés lehetséges forrásai és alkalmazási területek
50%-kal gyorsabb a ZEISS One-Scan tecnológiájával
Hatékonyabb az innovatív ZEISS szoftvermegoldásnak köszönhetően
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/newsimage346675.ts-1647439949269.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=fe7df029dd277e1ea0ea1adcbbec8884","large":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/newsimage346675.ts-1647439949269.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=4bab945ff6cd2614abeaa3d898383535","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/newsimage346675.ts-1647439949269.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=6046937a8002ae582f85ffc2724cee16","full":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/newsimage346675.ts-1647439949269.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=f496b033a212fde9606b1af60f7bb574"})
A részecskék megszámlálásán és a méretük felmérésén kívül a műszaki tisztaságra vonatkozó szabványok azt is előírják, hogy különbséget tegyünk a fémes fényes és nem fényes részecskék között. A hagyományos módszerek csak úgy tudják végrehajtani ezt a megkülönböztetést, ha kétszer szkennelik a szűrőmembránt: mindig eltérő polarizátor- és analizátortájolással. A díjnyertes ZEISS One-Scan technológiának köszönhetően ez most csupán egyetlen szkenneléssel is lehetséges – ezáltal akár 50%-kal gyorsabban megszületik az eredmény. 2021 márciusában a Fraunhofer Institute for Manufacturing Engineering and Automation (IPA) intézet a REINER keretén belül első helyen díjazta a ZEISS One-Scan technológiáját! Fraunhofer Purity Technology díj.
A ZEISS ZEN alapvető műszaki tisztasági elemzésével végzett vizsgálat a következőket foglalja magában:
- Teljes mértékben automatikus kiértékelés
- A műtárgyak méretére, hosszára, felületére és koordinátáira vonatkozó információk
- A fémes fényes és nem fémes fényes részecskék között a szűrőmembrán egyetlen szkennelésével különbséget lehet tenni
- A műtárgyak méret szerinti osztályozása, felhőpontokként a termék ujjlenyomatával
![Műszaki tisztaság kiértékelése Az ábrán a műszaki tisztaság kiértékelését megjelenítő monitor látható.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/technical-cleanliness-evaluation.ts-1647440945378.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=158%2C158%2C2018%2C1514&w=640&s=9ecf893c7f0d47134e6699b42a575857","large":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/technical-cleanliness-evaluation.ts-1647440945378.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=158%2C158%2C2018%2C1514&w=1280&s=14ce1e2857c1315956a3efd5e98dd336","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/technical-cleanliness-evaluation.ts-1647440945378.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=158%2C158%2C2018%2C1514&w=832&s=48d34a8790b55593690be459d7bf3b7e","full":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/technical-cleanliness-evaluation.ts-1647440945378.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&rect=158%2C158%2C2018%2C1514&w=1920&s=ab34360b35fa82b8494a1696267e12cb"})
Maximális termelékenység. A műszaki tisztasági elemzésnek köszönhetően
A ZEISS szoftver a gépi tanulás segítségével felgyorsítja a műtárgyak osztályozását
A műszaki tisztaság a ZEN alapvető szoftverének termékcsaládjába tartozik az ipari mikroszkópiás ágazaton belül. A részecskék osztályozásának optimalizálása érdekében a ZEISS elérhetővé teszi a ZEISS ZEN alapvető felhasználóinak a műszaki tisztasági elemzési (Technical Cleanliness Analysis, TCA) megoldást, amely három, gépi tanuláson alapuló, előre betanított modult tartalmaz. A modul segítségével a részecskék a megvizsgált képen található mért paraméterek alapján osztályozhatók. A mintákat három, előre betanított gépi tanulási modell elemzi, amelyek betanítását a felhasználók és az ügyfelek is végezhetik. A mintákat szürkeárnyalatos meghatározás alapján elemzik, az objektumok osztályozásához előre betanított gépi tanulási modell pedig az új TCA munkasablonokban a háttérben fut, miközben a rendszer párhuzamosan ellenőrzi a típusok osztályozását a meglévő részecskemérések eredményei alapján. Ez a gépi tanulási algoritmusokkal végzett típusosztályozási kiegészítő ellenőrzés „megnézi” a többek között a méreten, a formán, az intenzitáson és a típusosztályozáson végzett klasszikus elemzés által szerzett részecskeeredményeket, majd kombinálja a különböző jellemzőket számos, nem korrelált döntési fába. Az eredményeket a rendszer egyenként kiértékeli az egyes döntési fák esetében, ehhez pedig az objektumosztályozási modellnek betanított osztályozást használja. Ennek eredményeképpen születik meg a részecsketípus automatikus becslése.
Növelje a termelékenységét a ZEISS műszaki tisztasági objektumosztályozása segítségével:
A sötét fémes alkatrészek esetében akár 50%-kal csökken a helytelen osztályozás esélye, és akár 25%-kal több időt is megspórolhat
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss_technical-cleanliness_increase-productivity.ts-1650452332596.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=0097f3dacd7733f003f0a0de7704c552","large":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss_technical-cleanliness_increase-productivity.ts-1650452332596.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=a3b3fbee1d3e933ab25f11c9c56715e9","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss_technical-cleanliness_increase-productivity.ts-1650452332596.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=8cb457b62a43b081d4a392b764850e38","full":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss_technical-cleanliness_increase-productivity.ts-1650452332596.png?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=a1d0b09785aec925b025d93c9ee4281b"})
Részecskékről készült képek összehasonlítása, objektumosztályozással és anélkül: pl. 10 minta esetében ez potenciálisan napi 3,5 óra megtakarított időt jelenthet.
A kiemelkedő szabványoknak köszönhetően ellenőrizheti a műszaki tisztaságot
A ZEISS termékcsaládja rendkívül hatékony munkafolyamatban teszi lehetővé a kombinált részecskefelismerést és -osztályozást, amely nemcsak megtalálja a részecskéket, hanem segít a szennyeződés oka szerinti osztályozásukban is.
A ZEISS segítségével egyetlen munkafolyamatban kombinálhatja a fény- és elektronmikroszkópokból származó adatokat, hogy további információkat kaphasson. Ezáltal részletes információkat nyerhet a szennyeződés okáról.
![A műszaki tisztaság ellenőrzése Az ábrán tisztasági teszteléshez használt berendezések láthatók. A teszt célja a műszaki tisztaság megvalósítása.]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss-technical-cleanliness-portfolio.ts-1595320289176.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=8a8e3328f137c196764760a3f35a8c26","large":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss-technical-cleanliness-portfolio.ts-1595320289176.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=2f060e690fb72d9168974f5e0f263fb3","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss-technical-cleanliness-portfolio.ts-1595320289176.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=c3664cfbec1ef4610a34430f3b368774","full":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/zeiss-technical-cleanliness-portfolio.ts-1595320289176.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=38a31635470c5a21d0362267dd947519"})
Átfogó műszaki tisztaság a ZEISS-nek köszönhetően
Fénymikroszkóp-rendszerek
Ismerje fel a potenciális szennyeződési kockázatokat
Különböztesse meg a részecskéket mennyiség, méreteloszlás és morfológia szerint, és tegyen különbséget a fémes és a nem fémes részecskék, valamint a szálak között egészen 2 μm nagyságig. Készítsen tisztasági jelentéseket az ipari szabványoknak megfelelően.
Korrelációs részecskeelemzés
Hozzon létre kibővített elemzési munkafolyamatokat
Jellemezze a folyamat szempontjából kritikus részecskéket, és azonosítsa a kritikus részecskéket a korrelációs mikroszkópia alkalmazásával, amely egyetlen munkalépésben kombinálja a fény- és elektronmikroszkópból származó adatait.
Elektronmikroszkópia és EDS-rendszerek
A szennyeződés forrásainak azonosítása
Mérje meg a részecskék morfológiai jellemzőit és használja a teljes mértékben automatizált alapvető elemzést a részecskék kémiai összetevők szerinti osztályozásához. A ZEISS SmartPI elektronmikroszkópokhoz készült részecskeelemző szoftvere automatizálja a részecskék észlelését, elemzését és osztályozását, miközben egyetlen alkalmazásba sűríti a mikroszkópos ellenőrzést, a képfeldolgozást és az alapvető elemzést.
A ZEISS fény- és elektronmikroszkópjai műszaki tisztasági megoldásokhoz
További információkat szeretne megtudni a ZEISS műszaki tisztasági megoldásairól?
Töltse ki az alábbi űrlapot a műszaki tisztaságról szóló tájékoztató letöltéséhez!
![]({"small":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/tca_brochure_image_en.ts-1648207851932.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=640&s=13cba84dfbbabd367e8c20f6cf59bc5b","large":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/tca_brochure_image_en.ts-1648207851932.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1280&s=75ddb2a65ded973938a71e8fc2704245","medium":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/tca_brochure_image_en.ts-1648207851932.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=832&s=4c6df31f1c8bd7e0cab74c2446a1ac29","full":"https://images.zeiss.com/metrology/solutions/technical-cleanliness/tca_brochure_image_en.ts-1648207851932.jpg?auto=compress%2Cformat&fm=png&ixlib=java-1.1.11&w=1920&s=b2a685085f235e1c931f249a784e7154"})
Lépjen be a műszaki tisztaság új korszakába a ZEISS segítségével
A ZEISS ipari méréstechnikai megoldásai által nyújtott előnyök:
- Gyorsabb elemzések és döntéshozatal a legújabb méréstechnikai megoldásokkal
- Műszaki tisztaság a gyártásban, az elektronikai iparban, a gépjárműiparban és még sok más területen
- Részecskemérések az érvényben lévő iparági szabványoknak megfelelően (pl. VDA 19.1, ISO 16232)
- A maradék törmelék szennyeződése a meghatározott tisztasági teszteknek megfelelően
- Tesztelések és tisztasági elemzések a szabványosított kivonási eljárásoknak megfelelően
- Mérési szolgáltatások széles választéka: karbantartás, szervizelés, tartalék alkatrészek, szoftverek és hardverek frissítése, kalibrálás, tervezés és konzultáció
- Támogatás Önnek és alkalmazottainak méréstechnikai kihívások esetén, amelyet a ZEISS Méréstechnikai Akadémiáján nyújtott képzés és oktatás révén szerezhet meg