Ugrás a fő tartalomra
Industrial Quality Solutions
vissza
Industrial Quality Solutions
javasolt keresések
népszerű keresések

Műszaki tisztaságvizsgálat

Ingyenes tisztaságvizsgálat az első termékre!
Kattintson a részletekért!
Műszaki tisztaság
Kapcsolat

Mit jelent?

Alapfogalmak, célok, részecskeanalízis

A műszaki tisztaság fontos szerepet játszik, különösen azokon a területeken, ahol alkatrészeket gyártanak, ilyen például az elektrotechnika vagy az autóipar. Ha a részecskékre érzékeny pontokon szennyeződés keletkezik, az gyorsan működési zavarokhoz vagy akár működési hibákhoz is vezethet. Ha egy rendszerben a visszamaradt szennyeződés olyan alacsony szintű, hogy nem keletkezik károsodás, akkor az műszakilag tisztának tekinthető.

Az alábbiakat vizsgálja

  • Részecskeszennyeződéseket (pl. fémforgácsokat, port, műanyagdarabkákat, festékmaradványokat)
  • Szennyeződések méretét, típusát és mennyiségét
  • A szennyeződés forrását a gyártási vagy szerelési folyamat során

 

Miért fontos?

Hibamentes gyártás és termékbiztonság
  • A szabad szemmel nem látható apró szennyeződések (pl. fémrészecskék, szálak, por) súlyos hibákat okozhatnak (szelepek elakadása, dugulása, elektromos zárlatok, mechanikai kopás, súrlódás, tömítések sérülése)
  • A nemzetközi szabványok (pl. VDA 19, ISO 16232) előírják a részecskeszennyezés méréseit, ezek betartása kötelező lehet beszállítók és gyártók számára.
  • A szennyeződések típusa és eloszlása segít azonosítani a forrásukat (pl. forgácsolás, szállítás, szerelés), így lehetővé válik a gyártási folyamat optimalizálása és a hibamegelőzés.
  • A korai szennyezés-felismerés segít elkerülni a későbbi garanciális problémákat, meghibásodásokat, és csökkenti az újragyártás vagy javítás költségét.
  • A végtermékbe kerülő alkatrészek tisztasága kritikus lehet, különösen ha a vevő szigorú műszaki előírásokat támaszt (pl. autóipari OEM-ek).

Hol használják?

Ipari alkalmazási területek
  • Autóipar és elektromos járművek
  • Gyógyászati iparág
  • Gépészet
  • Additív gyártás
  • Elektrotechnika és akkumulátorgyártás
  • Optikai ipar
  • Olajelemzés és hidraulika

Hogyan történik?

A tisztaságvizsgálat gyakorlati menete
  • Minta-előkészítés: a vizsgált alkatrészt egy folyadékkal átöblítik vagy ultrahangos mosással tisztítják.
  • Szűrés: a szennyező anyagokat szűrőpapíron gyűjtik össze.
  • Elemzés: mikroszkóppal vagy automatizált képfeldolgozó rendszerrel vizsgálják a szennyeződéseket (méret, darabszám, típus).
  • Értékelés: az eredményeket szabványok (pl. ISO 16232, VDA 19) szerint elemzik.

Részecskeszennyeződések típusai

A műszaki rendszerekben előforduló részecskék
  • golyóscsapágy

    Mozgó alkatrészek közötti részecskék, pl. golyóscsapágy

  • befecskendező fúvóka

    Befecskendező fúvókákban gyártásból hátramaradó részecskék, pl. motorokból származók

  • részecskék az olajban

    Részecskék olajban és kenőanyagokban

  • részecskék elektromos érintkezők között

    Részecskék elektromos érintkezők között, pl. nyomtatott áramköri lap

  • részecskék fecskendőkben

    Részecskék fecskendőkben és implantátumokban

ZEISS mikroszkópos bérmérés, bérvizsgálat

Pontos adat, gyors döntés saját eszközpark nélkül

A ZEISS mikroszkópos bérmérési és bérvizsgálati szolgáltatásai gyors és precíz megoldást nyújtanak, ha nagy felbontású vizsgálatra van szükség saját laborháttér nélkül.

Korszerű digitális és elektronmikroszkópos eszközeinkkel tapasztalt szakembereink végzik el a vizsgálatokat – legyen szó műszaki tisztaságvizsgálatról, felületi hibák azonosításáról, anyagszerkezeti elemzésről vagy részecskeanalízisről.

Szolgáltatásunkkal időt és költséget takaríthat meg, miközben garantáljuk a megbízható, dokumentált és a legutóbbi szabványoknak megfelelő eredményeket.

Vizsgálati módszerek és eszközök

Innovatív és megbízható megoldások a szennyeződések kimutatására

Fénymikroszkóp rendszerek

Megoldás a szennyeződések azonosítására

Különböztesse meg a részecskéket mennyiség, méreteloszlás és morfológia szerint, és különítse el a fémes és a nem fémes részecskéket, valamint a rostokat egészen 2 μm nagyságig. Készítsen tisztasági jegyzőkönyveket az iparági standardoknak megfelelően.

Fény- és elektronmikroszkópia

Korrelációs részecskeelemzés

A korrelációs részecskeelemzés egy korszerű technika, amely a fény- és elektronmikroszkópos vizsgálatok kombinálásával pontos és részletes képet ad a szennyező részecskék fizikai és kémiai tulajdonságairól, ezzel támogatva a hibamegelőzést és minőségbiztosítást.

Elektronmikroszkópia és EDS rendszerek

Precíz anyagösszetétel meghatározás

Lehetővé teszi a szennyező részecskék nagy felbontású morfológiai vizsgálatát és precíz anyagösszetétel-elemzését. A ZEISS SmartPI, az elektronmikroszkópokhoz való részecskeelemző szoftver,  automatizálja a részecskék felismerését, elemzését és osztályozását, egyetlen alkalmazásban egyesítve a mikroszkóp vezérlését, a képfeldolgozást és az elemanalízist.

ZEISS mikroszkópok a tisztaságvizsgálatban

Precíz mérés csúcstechnológiával

Tisztaságvizsálat a ZEISS-nél I Lépésről lépésre

Csala Tas

Alkalmazástechnikai mérnök

A ZEISS tisztaságvizsgálat az alábbi iparági szabványok szerint történik

Alkatrészek műszaki tisztasága

Olajtisztaság

Gyógyászati eszközök tisztasága a gyártási folyamatban

VDS 19.1

ISO 4406

VDI 2083, 21. rész

VDA 19.2 (Illig-érték)

ISO 4007

ISO 16232

DIN 51455

SAE AS 4059

A nagyobb termelékenység érdekében az összes releváns adatot tartalmazó tisztasági jegyzőkönyvek létrehozásához a ZEISS mikroszkópok és a HYDAC extrakciós műszerek egy műveleti lépésben képesek az adatokat egyetlen zökkenőmentes munkafolyamatban összesíteni. Magazinunkban mindent megtudhat arról, hogyan integrálja a ZEISS a HYDAC készülékektől származó adatokat a jegyzőkönyvkészítésbe.

Új technológia a műszaki tisztaságvizsgálat és -elemzés terén

ZEISS One-Scan technológiával 50 százalékkal gyorsabb: Az innovatív ZEISS szoftveres megoldással még hatékonyabb
ZEISS One-Scan technológiával 50 százalékkal gyorsabb

A részecskék mennyiségi meghatározásán és méretük mérésén kívül a műszaki tisztaságra vonatkozó szabványok a fémesen csillogó és nem csillogó részecskék megkülönböztetését is megkövetelik. A hagyományos módszerek csak úgy tudják ezt a megkülönböztetést elvégezni, hogy a szűrőmembránt kétszer szkennelik, minden alkalommal eltérő polarizációs szűrővel és analizátorbeállítással. A díjnyertes ZEISS One-Scan technológiával ez most már egyetlen szkenneléssel is lehetséges, ami akár 50 százalékkal csökkenti az eredményhez szükséges időt. 2021 márciusában a Fraunhofer Institute for Manufacturing Engineering and Automation (IPA) a ZEISS One-Scan technológiáját a REINER! Fraunhofer Purity Technology Award díj első helyezésével jutalmazta.

Szeptemberi ajánlat!

Ingyenes műszaki tisztaságvizsgálat - ne hagyja ki!

A szennyeződések azonosításával és eltávolításával megelőzheti a későbbi hibákat, csökkentheti a garanciális költségeket, javíthatja a termékei minőségét és vevői elégedettséget eredményez. Hadd támogassuk most ebben ingyenes ajánlatunkkal.

Ajánlat megtekintése

Sikertörténet I Az INNIO csoport a ZEISS megoldásával elemzi a visszamaradó szennyeződésrészecskék kémiai összetételét.

Az INNIO Group egy Jenbachban (Ausztria) székhellyel rendelkező vállalat, amely innovatív energiatermelő és -sűrítő rendszereket fejleszt és gyárt.

Mivel a vállalat által gyártott nagyméretű motorok egyre nagyobb teljesítményűek és az egyes alkatrészek egyre nagyobb igénybevételeknek vannak kitéve, a jenbachi INNIO csoport 10 éve műszaki tisztasági szabványokat vezetett be.

A kritikus szennyeződésmaradványok forrásának meghatározásához a vállalat 2015 óta használ ZEISS EVO pásztázó elektronmikroszkópot.

Olvassa el a sikertörténetet és tekintse meg a videót is

Eredmények kiértékelése

A ZEISS ZEN core átfogó szoftverplatformmal

  1. A komplex képfeldolgozó szoftver egyesíti a képalkotást, a szegmentálást, az elemzést és az adatkapcsolatot, és lehetővé teszi a mikroszkópos képek automatizált képelemzését.
  • Teljesen automatikus kiértékelés és mesterséges intelligencia alapú analízis
  • A szemcsék méretére, hosszára, területére és koordinátáira vonatkozó információk
  • A fémesen csillogó és nem-csillogó részecskék megkülönböztetése a szűrőmembrán egyetlen szkennelésével elvégezhető
  • Méretosztályokba osztott szemcsék, a termék azonosítójával rendelkező pontfelhőként

A ZEISS szoftver felgyorsítja a részecskék gépi tanulással történő osztályozását.

A műszaki tisztaság az ipari mikroszkópia területén a ZEN core szoftverportfólió része. A részecskék osztályozásának optimalizálása érdekében a ZEISS a ZEISS ZEN core felhasználóinak a műszaki tisztaságvizsgálatot („TCA”) három előre betanított, gépi tanuláson alapuló modullal kínálja. Ez a modul lehetővé teszi a részecskék osztályozását egy elemzett kép mért paraméterei alapján. A minták elemzése szürkeárnyalat-meghatározással történik, az objektumosztályozásra előre betanított gépi tanulási modell pedig a háttérben fut az új TCA munkasablonokban, miközben a típusosztályozás ellenőrzése párhuzamosan, a meglévő részecskemérési eredmények alapján történik. A típusosztályozásnak ez a gépi tanulási algoritmusok segítségével történő további ellenőrzése „megnézi” a többek között a méret, alak, intenzitás és típusosztályozás klasszikus elemzésével kapott részecskeeredményeket, majd a különböző jellemzőket nagy számú, egymással nem korreláló döntési fává kombinálja. Az eredményeket minden egyes döntési fa esetében külön-külön értékeli a rendszer az objektumosztályozási modellhez betanított osztályozás segítségével. Ennek a részecsketípus automatikus előrejelzése az eredménye.

Műszaki tisztaság alapfogalmak (GYIK)

  • A műszaki tisztaságvizsgálat és -elemzés segítségével gyorsan részletes információkhoz juthat az apró részecskékről. Emellett rövidebb idő alatt és hatékonyabban, az ISO 16232 és a VDA 19 szabványnak megfelelően végezheti a teljes folyamatot a vizsgálattól és elemzéstől kezdve egészen a jelentéskészítésig. Az így megszerezett adatok a szabványoknak megfelelő műszaki tisztaságvizsgálat és a megfelelő minőség biztosítása mellett az idegenrészecske-szennyeződés okának meghatározásában, a trendek megértésében, az adatok mentése és megosztása révén pedig a gyártási folyamatok javításában és az ismételt előfordulás elkerülésében is hasznosak.

     

    • Fémes: Fémtartalmú részecskék, melyek vezetőképességük, illetve keménységük miatt korai tönkremenetelhez vezethetnek. Meghatározásuk történhet polarizált fénymikroszkópiával, vagy pontos összetételi igény esetén elektronmikroszkóppal.
    • Nem-fémes: Nem-fémes részecskék, melyek bár a fémesnél kisebb kockázatot jelentenek, szintén vezethetnek korai meghibásodáshoz. Meghatározásuk történhet polarizált fénymikroszkópiával, vagy pontos összetételi igény esetén elektronmikroszkóppal.
    • Szálas: Egy előre megadott hossz-szélesség arányt meghaladó, nem-fémes részecske.
    • Sztenderd: Szabványfüggő, általánosságban az 50µm-nél nagyobb részecskék vizsgálata tartozik ebbe a kategóriába.
    • Bővített: Szabványfüggő, általánosságban az 5µm-nél nagyobb részecskék vizsgálata tartozik ebbe a kategóriába.
    • EDS: A részecskék pontos kémia összetételének meghatározására utal, az Energiadiszperzív röntgenspektroszkópia röviditése.
    • Vakérték // Blank Value: Üresjáratban, mintadarab nélkül vizsgáljuk a rendszer tisztaságát
    • Csökkenési kritérium: A választott lemosási paraméterek igazolására elvégzendő teszt, mellyel igazoljuk a folyamat megfelelő tisztítási mértékét.
    • Folyadék: a részecskéket folyadék segítségével távolítjuk el a vizsgált termékről, majd a folyadékot megszűrve vetjük vizsgálat alá.
    • Vákuum: a részecskéket vákuum segítségével távolítjuk el a vizsgált termékről, a részecskéket szintén egy szűrő fogja fel vizsgálat céljából.

     

    • Habosított: Jellemzően kisebb rácsméret, sérülékenyebb, viszont jobbak az optikai tulajdonságai.
    • Szőtt: Jellemzően nagyobb rácsméret, ellenálló, viszont az eltérő alapanyag optikai hibákat eredményezhet.
  • Bár az elterjedt szabványokban foglalt követelményeket mind a fény- illetve az elektronmikroszkópos technológia teljesíti, a technológiából eredő nagyobb felbontási képesség miatt elektronmikroszkóp használatával pontosabb eredményt kaphatunk némi extra vizsgálati időért cserébe. A technológia további előnye, hogy az alapvető fémes illetve nem-fémes kategóriákon túl pontos kémiai összetételvizsgálatot tesz lehetővé.

  • A szabványok iparág-specifikusak és az iparágára vonatkozó szabványnak kell megfelelni.

    • Autóipar:
      ISO 16232 – Útmutató a részecskeanalízishez (leggyakoribb)
      VDA 19 / VDA 19.1 és 19.2 – Német autógyártói szövetség szabványa
    • Orvostechnika
      ISO 19227, ISO 14644, ISO 13485 – biológiai és részecske-tisztaságra
    • Elektronikai ipar
      IPC szabványok (pl. IPC-A-610)

    A  vizsgálandó alkatrészeket illetően fontos, hogy nem kell mindig a teljes alkatrészt vizsgálni. A szabványok megengedik, hogy csak funkcionálisan kritikus területeket kell elemezni, vagy típusmintát választani reprezentatív darabként.Ezután vegye fel a kapcsolatot a ZEISS csapatával és mi pontisan elmondjuk a tisztaságvizsgálat folyamatát, segítünk az Önnek megfelelő eszközök és technológia kiválasztásában és biztosítjuk a teljes mintavételi és analitikai folyamat dokumentálását.

Megérkezett a ZEISS SIGMA a budaörsi ZEISS Quality Excellence Center-be!

Örömmel tájékoztatjuk, hogy a budaörsi Quality Excellence Centerünkbe megérkezett a legmodernebb ZEISS Sigma téremissziós pásztázó elektronmikroszkóp (FESEM).

Ez a csúcstechnológia lehetővé teszi számunkra, hogy helyszíni nagyfelbontású (akár 1.000.000x-os nagyítással) képalkotási és precíz bérvizsgálati szolgáltatásokat nyújtsunk, megfelelve a legszigorúbb minőségbiztosítási és anyagelemzési követelményeknek.

  • Pontos, reprodukálható eredmények bármilyen mintából
  • Gyors és egyszerű kísérletbeállítás
  • Bevált Gemini technológián alapul
  • Rugalmas detektálás a tiszta képekért
  • A Sigma 360 a kategóriájában legjobb EDS geometriával rendelkezik

Bővebb információ a ZEISS Sigma termékcsaládról itt 

Szeptemberi ajánlat I Ingyenes tisztaságvizsgálat az első termékre!

Szeptember 1-től 30-ig ingyenes vizsgálatot kínálunk az első alkatrészére a legmodernebb gépparkkal, beleértve a nemrég érkezett vadonatúj ZEISS Sigma pásztázó elektronmikroszkópot (SEM). Használja ki ezt a lehetőséget, hogy azonosítsa a szennyeződések típusát, mennyiségét és méretét, amelyek működési problémát okozhatnak.

Ezáltal megelőzheti a hibákat és megfelelően teljesítheti a vevői elvárásokat.

Ez a különleges ajánlat csak korlátozott ideig érhető el.

Töltse ki az alábbi űrlapot, hogy felvehessük Önnel a kapcsolatot!

Fontos információ:

  • Az ajánlat kizárólag vállalati ügyfelek részére érvényes, magánszemélyek részére nem elérhető.
  • Az ajánlat a kampány időtartama alatt egy darab alkatrész vizsgálatára vonatkozik. 

Érdekli az ajánlatunk?

Az alábbi űrlapot töltse ki és szakértőink felveszik Önnel a kapcsolatot.

Űrlap betöltése folyamatban...

/ 4
Következő lépés:
  • Érdeklődés
  • Személyes adatok
  • A vállalat részletei

Ha további információra van szüksége a ZEISS adatkezeléséről, olvassa el az adatvédelmi tájékoztatót

További információk letöltése

Kapcsolatfelvétel

Érdekli termékeink vagy szolgáltatásaink további megismerése? Örömmel állunk rendelkezésére további részletekkel vagy egy élő bemutatóval, akár távolról, akár személyesen.

ZEISS Metrology Shop

Könnyedén rendelhet szondákat, mérési tartozékokat és egyebeket.

ZEISS Metrology Portal

Hozzáférés a rendszerek és szoftverszolgáltatások teljes skálájához

ZEISS Academy Metrology

Az Ön személyre szabott metrológiai képzése, különböző formátumokban elérhető

További információra van szüksége?

Vegye fel velünk a kapcsolatot. Szakértőink visszahívják Önt.

Űrlap betöltése folyamatban...

/ 4
Következő lépés:
  • Érdeklődés Érdeklődés
  • Személyes adatok
  • A vállalat részletei

Ha további információra van szüksége a ZEISS adatkezeléséről, olvassa el az adatvédelmi tájékoztatót