ZEISS O-INSPECT duo

Mikroszkóp és mérőgép egyben.

A ZEISS O-INSPECT duo két technológiát kínál egy gépben: az olyan nagyméretű munkadarabok, mint a NYÁK-ok, üzemanyag-cellák vagy akkumulátorok egészben mérhetők és vizsgálhatók, nagy felbontásban. A 3D mérési technológia és a mikroszkópos vizsgálat kombinációja növeli a hatékonyságot, és helyet takarít meg a minőségügyi laboratóriumokban. A ZEISS O-INSPECT duo 8/6/3-as méretben kapható.

2-in-1: Microscope and measuring machine in one device
Fast and precise 3D measurements – optical and tactile
High-resolution optic with additional inspection software ZEISS ZEN core

A ZEISS első multitechnológiás rendszere

A ZEISS O-INSPECT duo „VMM mikroszkópként” két alapvető alkalmazást fed le a minőségbiztosításban: Nagyméretű részegységek vagy sok kisméretű részegység pontos mérése és nagy felbontású vizsgálata. A berendezést kifejezetten olyan alkalmazásokhoz fejlesztettük ki, ahol a méretmérés és -vizsgálat kombinációjára van szükség – beleértve a szegmentálást, az összefűzést és a színes képek feldolgozását. Ahelyett, hogy egy optikai mérőgépet és egy mikroszkópot kellene beszerezni, a minőségügyi laboratóriumokban csak egy berendezésre van szükség, ami helyet és rendszerköltséget takarít meg. Tudjon meg többet a multifunkciós berendezés további előnyeiről az adott területeken.

MÉRÉSTECHNIKA

Pontos mérések – optikai és tapintásos elven

Nagy pontosság lapos és érzékeny munkadarabok esetében

A ZEISS O-INSPECT duo egy multiszenzoros mérőgép, amely a ZEISS VAST XXT tapintásos letapogató érzékelővel párosított nagy felbontású optikájával nyűgöz le. Az érzékelő gyors és pontos 3D méréseket tesz lehetővé azáltal, hogy nagyszámú mérési pontot rögzít egy menetben.

A ZEISS VAST letapogatásnak (ZVP) köszönhetően a nagyon kicsi vagy érzékeny alkatrészek érintés nélkül, kiváló pontossággal mérhetők, és a mérési idő is jelentősen csökken. Ez a nagy látómezőnek köszönhető, amely nagy képfelbontást és kiemelkedő képhűséget kínál még a periférikus területeken is.

MÉRÉSTECHNIKA

Felületvizsgálat és -mérés egy gépen

Ma optikai mérőgép, holnap mikroszkóp

Sok munkadarab esetében meg kell vizsgálni a felületet is a méretek mérése mellett. Ahol korábban két külön eszközt használtak a méréshez és a vizsgálathoz, a ZEISS O-INSPECT duo mostantól 2 az 1-ben megoldást kínál. A berendezés intuitív kezelhetőségének és a 12-szeres zoomobjektívvel ellátott nagy felbontású, 5 MP-es Discovery.V12 scout 160 c színeskamera-érzékelőnek köszönhetően a vizsgálati feladatok mostantól a mérőeszközön is elvégezhetők. A ZEISS CALYPSO szoftverrel való szokásos használat mellett a gép mikroszkópos feladatokra is használható a ZEISS ZEN core szoftver segítségével.

MIKROSZKÓPIA

Legnagyobb mikroszkópunk

Nagyméretű alkatrészek egészben történő vizsgálata

A részegységek feldarabolása már a múlté: A nagyméretű munkadarabok, például NYÁK-ok, üzemanyag-cellák vagy akkumulátorok optikai vizsgálata mostantól egészben végezhető el. Ez értékes erőforrásokat és időt takarít meg, valamint csökkenti a munkadarab-töredékek különböző rendszerek közötti ide-oda mozgatásából eredő hibaforrásokat.

A nagyméretű alkatrészek vizsgálata mellett a ZEISS O-INSPECT duo alkalmas sok kisebb alkatrész automatizált vizsgálatára is. Ez azt jelenti, hogy a mérőmikroszkópot csak egyszer kell betölteni – maga a vizsgálat ezután egyetlen lépésben, az egyes minták cseréje nélkül történik.

MIKROSZKÓPIA

Nagy felbontású, 5 MP-es színes kamera

A hibák pontos felismerése

Bár a fekete-fehér képek nagy kontrasztkülönbséget biztosítanak a méréstechnikában, a színes képek előnyt jelentenek a mikroszkópos elemzés esetében: Az 5 megapixeles, színes képfelbontással még az apró hibák is tisztán láthatók, ami lehetővé teszi a precíz vizsgálatot és kiértékelést. A ZEISS O-INSPECT duo használható a jól ismert ZEISS ZEN core mikroszkópiás szoftverrel.

Kattintson a kör alakú jelekre a képen, és előbukkan a további részleteket tartalmazó információs ablak.

Fedezze fel a részleteket

Fedezze fel a ZEISS O-INSPECT duo jellemzőit

Nagy látómező, nagy képfelbontással

A 5 MP-es ZEISS Discovery.V12 scout 160 c kameraérzékelő nagy felbontást biztosít, és a legapróbb részletek és struktúrák megjelenítését is lehetővé teszi a 12-szeres zoomnak köszönhetően. A nagy, 16,1 x 12 mm-es látómező lehetővé teszi, hogy képenként több információ jelenjen meg. A színes kamera precíz mikroszkópos elemzést tesz lehetővé, ugyanakkor a nagy, 5 MP-es felbontásnak köszönhetően következetesen pontos eredményeket biztosít a méréstechnikában.

Megvilágítás

A lámpagyűrű egy külső és egy belső gyűrűből áll, fehér LED-ekkel, amelyek 16 szegmensben egyenként vezérelhetők. A berendezés koaxiális felfelé irányuló és háttérvilágítással egyaránt rendelkezik, ami különböző alkalmazások és munkadarabok elemzését teszi lehetővé.

Gyors és pontos 3D tapintásos mérések

A ZEISS VAST XXT nagy pontosságú szkennelés tesz lehetővé azáltal, hogy egy menetben nagyszámú mérési pontot rögzít, és 1,5 µm + L/250 µm pontosságot biztosít.

Nagy mérőasztal

A 800 x 600 x 300 mm-es mérőasztal lehetővé teszi a nagyméretű, akár 100 kg tömegű munkadarabok mérését és vizsgálatát anélkül, hogy azokat szét kellene vágni, roncsolni kellene vagy meg kellene munkálni a mérés előtt. Másrészt akár több kisméretű alkatrész is automatikusan megvizsgálható a nagyméretű mérőasztalnak köszönhetően.

2 szoftvertermék

A ZEISS CALYPSO továbbfejlesztett megjelenítési lehetőségeket kínál, hogy Önnek időt takarítson meg. A CAD-modelleket meg lehet jeleníteni egymásra helyezve, így gyorsan azonosíthatók az esetleges eltérések (a TÉNYLEGES és az ELVÁRT között). Számos opciónak köszönhetően a ZEISS CALYPSO a speciális igényekhez is a megfelelő eszközöket kínálja. A ZEISS ZEN core pedig a mikroszkópiához használható: A klasszikus képalkotás mellett a szoftvercsomag képalkotó, szegmentáló, elemző és adatcsatlakoztató eszközöket is tartalmaz a kapcsolódó laboratóriumi környezetekben és a termelésben végzett multimodális mikroszkópiához.

Szakszerű és gyakorlatias jelentések

A ZEISS PiWeb jelentéskészítés egy kattintással dokumentálja és megjeleníti az Önök mérési adatait, így hasznos betekintést nyújt alkatrészeikről és folyamataikról.

Optimális kontrasztok

A koaxiális felfelé irányuló és háttérvilágítás mellett a ZEISS O-INSPECT duo különböző vezérlési lehetőségeket kínál a lámpagyűrűhöz is. A belső és a külső LED-gyűrűk külön-külön kapcsolhatók be és ki, illetve egyes szegmenseik akár egyenként is aktiválhatók.

Membránok, kompozitok, tömítések, bevonatok és szilárd anyagok elemzése

Belső és külső LED-ek

A lámpagyűrű fehér színű belső és külső LED-ekből áll. A belső és külső LED-ek együtt a munkadarab maximális megvilágítását eredményezik.

Belső LED-ek

A belső lámpagyűrű a felületi textúra kontrasztjait növeli, ami olyan javulást eredményez, mint például a jobb fókuszálás – a még pontosabb mérési eredmények érdekében.

Cellakeret

A külső lámpagyűrű LED-jei a zavaró környezeti fény kiszűrését teszik lehetővé. Ez olyan előnyöket biztosít, mint például a színes anyagok nagy kontrasztú megvilágítása.

Szegmensvilágítás

A lámpagyűrű 16 szegmensből áll, amelyek egyenként vezérelhetők. Ez biztosítja a munkadarab tulajdonságainak megfelelő, optimális megvilágítást.

Ergonomikus és kényelmes működtetés

A ZEISS O-INSPECT duo-nak nem csak a minőség, megbízhatóság és gyorsaság tekintetében kell megfelelnie a legmagasabb műszaki elvárásoknak – biztonságosnak, ergonomikusnak és könnyen használhatónak is kell lennie. Részegységeink műszaki kiválósága csak akkor érvényesül teljes mértékben, ha a termék könnyen kezelhető a rendeltetésének megfelelően. Ezért láttuk el a ZEISS O-INSPECT duo-t hasznos jellemzőkkel.

Opcionális paletta

Az opcionális paletta lapos munkadarabokhoz használható, és lehetővé teszi a könnyű szállítást, valamint a gépen való biztonságos rögzítést.

Levehető elülső borítás

A levehető elülső borításnak köszönhetően a ZEISS O-INSPECT duo kényelmesen és egyszerűen szállítható a kívánt helyre emelőtargoncával, és ott optimálisan elhelyezhető.

Kezelőpanel-tartó

A kezelőpanel-tartó tetszés szerint elhelyezhető a gép bármelyik oldalán, ezzel biztosítva az optimális hozzáférést és kezelhetőséget.

CALYPSO vagy ZEN core? Mindkettő.

A ZEISS O-INSPECT duo két dedikált szoftverrel rendelkezik, amelyek speciális funkciókat kínálnak a mikroszkópos és a méréstechnikai feladatokhoz. Az adott területen dolgozó kezelőknek ezért nem kell új szoftvert tanulniuk.

ZEISS CALYPSO az optimalizált minőségellenőrzéshez

A ZEISS CALYPSO szoftverrel együtt a ZEISS koordináta-mérőgépek kihasználják teljes potenciáljukat. Optimalizálja minőségellenőrzését: A szoftver támogatja Önt a mérés előtt, alatt és után. Mérje és elemezze munkadarabjait a számos különböző funkció segítségével, és hozza ki a legtöbbet a koordináta-mérőgépéből.

Vizsgálati tervek automatikus létrehozása a PMI-ből: A ZEISS CALYPSO a PMI-adatok alapján automatikusan létrehozza a vizsgálati terveket, beleértve az összes releváns tulajdonságot és jellemzőt.

Az eltérő vizsgálati tervek verziószámozása: Minden lépését vissza tudja követni, mivel minden vizsgálati tervváltozat verziószámmal rendelkezik. Nem kell különféle másolatokkal dolgoznia, mivel mindent közvetlenül a vizsgálati tervben kezelhet.

Mérési stratégiák megvalósítása és optimalizálása: Az integrált generálóeszköz a mérési stratégiák esetében a vállalatspecifikus mérési stratégiák alkalmazásához vagy a ZEISS ajánlásai alapján az Ön vizsgálati terveinek optimalizálásához használható.

A mérési eredmények hatékony megjelenítése: A ZEISS PiWeb jelentéskészítéssel a ZEISS CALYPSO egy integrált professzionális eszközt kínál a protokolltervezéshez, amellyel a mérési eredmények érdemi megjelenítését hozhatja létre.

Tudjon meg többet a ZEISS CALYPSO-ról

Multimodális, összekapcsolt mikroszkópia a ZEISS ZEN core segítségével

A ZEN core nem csak mikroszkópos képalkotással foglalkozik: A szoftver a legátfogóbb képalkotó, szegmentáló, elemző és adatkapcsolati eszközcsomag a multimodális mikroszkópiához az összekapcsolt anyaglaboratóriumokban. Olyan átfogó funkciókat is kínál, mint a csempézés, az összefűzés (interferometria) és az automatikus hibafelismerés.

Egyetlen interfész az összes ZEISS mikroszkóphoz: A ZEN core egységes felhasználói felületet biztosít a ZEISS mikroszkópokhoz és kamerákhoz. Hajtson végre multimodális munkafolyamatokat, és kapcsoljon össze minden képalkotási és analitikai adatot a rendszerek, laboratóriumok és helyszínek között.

Korszerű képalkotás és automatizált elemzés: A ZEN core az Ön parancsnoki központja az összetettfény-mikroszkópok automatizált képalkotási, szegmentálási és elemzési funkcióinak beállításához.

Infrastrukturális megoldások az összekapcsolt laboratórium számára: A ZEN core biztosítja az összekapcsolt laboratóriumi környezetek infrastruktúráját, és egyetlen felhasználói felületen egyesíti az Önök valamennyi ZEISS képalkotó és mikroszkópiás megoldását.

Tudjon meg többet a ZEISS ZEN core-ról

Műszaki adatok


Méret	8/6/3
Kamera	ZEISS Discovery.V12 scout 160 c, 5 MP-es színes kamera, 2646 x 2056 pixel
Megvilágítás	16 szegmenses LED lámpagyűrű fehér LED-ekkel, koaxiális felfelé irányuló és háttérvilágítással.
Munkatávolság mm-ben	55
Mechanikus zoom	12 x
Maximális látómező mm-ben	16,1 x 12
Kompatibilis tapintófej	ZEISS VAST XXT – TL1/TL3
Teherbírás	100 kg
Tapintásos és optikai pontosság	1D: 1,5 μm + L/250 2D: 1,8 μm + L/250 μm 3D: 2,2 μm + L/250 μm
Szoftver	ZEISS CALYPSO (méréstechnikához) ZEISS ZEN core (mikroszkópiához)

  
      Alkalmazási példák
      
    Tekintse meg az alkalmazási videókban, hogy miként mérhetők és vizsgálhatók különböző munkadarabok, például gyógyászati műanyagok, bipoláris lemezek vagy nyomtatott áramköri lapok a ZEISS O-INSPECT duo segítségével.

Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Elektronikus részegységek mérése és vizsgálata a ZEISS O-INSPECT duo-val
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Bipoláris lemezek mérése és vizsgálata a ZEISS O-INSPECT duo-val
Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Gyógyászati műanyagok mérése és vizsgálata a ZEISS O-INSPECT duo-val

A mikroszkópiában már sokkal több hely áll rendelkezésünkre a részegységek vizsgálatához, és nem kell többé szétvágni a mintákat.

Michael Zeller Vezető menedzser, vizsgálóberendezés-felügyelet és méréstechnika, Zollner Elektronik AG

  
      Nézze meg bemutató felvételünket a funkciókról, a szoftverekről és a legjobb gyakorlatokról
      
    Tapasztalja meg az O-INSPECT duo-t működés közben, és tekintse meg termékwebináriumunkat, ahol érdekességekbe nyerhet betekintést termékmenedzsereinktől, szoftverbemutatókat láthat, és meghallgathatja az egyik tesztelő ügyfelünk első nyilatkozatát. Ezen az előadáson megtudhatja, hogy a mikroszkópia és a méréstechnika egyetlen eszközben történő ötvözése hogyan fogja javítani az Önök minőségbiztosítási folyamatait.

Harmadik féltől származó tartalom letiltva

A videólejátszó a cookie-beállítások értelmében le van tiltva. A beállítások módosításához és a videó lejátszásához kattintson a lenti gombra, és járuljon hozzá a „Funkcionális” nyomkövető technológiák használatához.

Letöltések

ZEISS O-INSPECT duo Product Flyer EN

4 MB

Letöltés

Kapcsolatfelvétel

Érdekli termékeink vagy szolgáltatásaink további megismerése? Örömmel állunk rendelkezésére további részletekkel vagy egy élő bemutatóval, akár távolról, akár személyesen.

ZEISS Metrology Shop

Könnyedén rendelhet szondákat, mérési tartozékokat és egyebeket.

ZEISS Metrology Portal

Hozzáférés a rendszerek és szoftverszolgáltatások teljes skálájához

ZEISS Academy Metrology

Az Ön személyre szabott metrológiai képzése, különböző formátumokban elérhető

További információra van szüksége?

Vegye fel velünk a kapcsolatot. Szakértőink visszahívják Önt.

Űrlap betöltése folyamatban...

Következő lépés:

Érdeklődés Érdeklődés
Személyes adatok
A vállalat részletei

Ha további információra van szüksége a ZEISS adatkezeléséről, olvassa el az adatvédelmi tájékoztatót