A parametrikus koncepció a ZEISS INSPECT-ben
Váljon egyszerűen termelékenyebbéA ZEISS INSPECT leveszi a munkát a válláról
A ZEISS INSPECT a parametrikus rendszermagnak köszönhetően automatikusan elmenti az egyes vizsgálati lépéseket: így minden munkafolyamat nyomon követhetővé, megismételhetővé és szerkeszthetővé válik. Nincs szükség új mérési terv létrehozására a sorozat egy másik alkatrészéhez – a parametrikus koncepcióval egyszerűen betölti az új mérési adatokat a projektjébe. Az eredmények újraszámítása automatikusan és azonnal megtörténik.
Nyomonkövethetőség
A ZEISS INSPECT nyomonkövethetőségével megtudhatja, hogyan számították ki a vizsgálati eredményeket. Ez a passzív parametrikus számítás a különböző elemek kapcsolatait mutatja.
Például láthatja, hogy az elemzéshez melyik mérési elvet használták. Azt is láthatja, hogy mely pontok határozzák meg a síkot, és hogy ezek a pontok milyen pontosan vannak megszerkesztve.

Projektsablonok létrehozása
A projektsablonok segítségével könnyen átviheti a kiértékelést más alkatrészekre. A rendszer az egyes lépéseket elmenti a projektsablonban majd alkalmazza az új alkatrészre. Egy vizsgálatot projektsablonként is elmenthet, és ugyanazt a vizsgálati folyamatot újra felhasználhatja. Minden kiértékelési folyamat szkriptelés, előzetes tervezés vagy felhasználói beavatkozás nélkül történik.

Több alkatrész összehasonlítása
A trendelemzések lehetővé teszik több alkatrész összehasonlítását egy projekten belül. Több szakasz használható trendelemzésre és statisztikai folyamatirányításra. A kiértékelés statisztikai színdiagramokat ad a terjedelemre és a szórásra vonatkozóan. Az SPC paraméterek ismegjeleníthetőek. Ezenkívül a tendenciát táblázatok és diagramok segítségével jelenítik meg.