ZEISS PiWeb hatékony statisztikák

Hatékony statisztika a ZEISS PiWeb segítségével

Átfogó statisztikák készítése egyszerűen

Akár a mérési eredmények minőségéről, akár a gyártási folyamatról kell információt szolgáltatnia: A ZEISS PiWeb minden olyan statisztikával támogatja Önt, amely segít a gyártási minőség nyomon követésében.

Mérőeszköz-ismételhetőségi és reprodukálhatósági vizsgálat
Mérőeszköz-ismételhetőségi és reprodukálhatósági vizsgálat

Mérőeszköz-ismételhetőségi és reprodukálhatósági vizsgálat

I., II. és III. típusú ARM és ANOVA mérőeszköz-ismételhetőségi és reprodukálhatósági vizsgálat elvégzése érintéses, optikai vagy kézi mérési adatokkal.

Ellenőrző diagramok
Ellenőrző diagramok

Ellenőrző diagramok

A folyamatadatok kiértékelése az x̅, S (szórás) és R (tartomány) beépített ábráival.

Képességvizsgálatok
Képességvizsgálatok

Képességvizsgálatok

Végezze el képességvizsgálatok széles skáláját, beleértve a Cm, Cmk, Cp, Cpk, Po, Pok stb. vizsgálatokat.

További eszközök

Készítsen olyan jegyzőkönyveket, amelyek más hasznos eszközöket is tartalmaznak, például dobozdiagramokat, hisztogramokat, trendvonalakat és oszlopdiagramokat.

Lépjen kapcsolatba velünk, vagy kérjen személyes bemutatót

Űrlap betöltése folyamatban...

Az ingyenes 90–120 perces élő foglalkozás a következőket tartalmazza:

  • Szakértőink bemutatója a ZEISS PiWeb megoldásokról
  • Tapasztalja meg, hogyan működik a ZEISS PiWeb valós időben, és ismerje meg, miért fontosak a minőségi adatok
  • Konfigurációs és árképzési lehetőségek az Ön egyedi alkalmazásához, igényeihez és költségvetéséhez igazodva

Ha további információkat szeretne kapni a ZEISS-nél történő adatfeldolgozásról, kérjük, olvassa el Adatvédelmi nyilatkozatunkat.