ZEISS tisztaságvizsgálati megoldások

Azonosítsa be a kiváltó okot, és hozza meg gyorsabban a helyes döntést

Gyorsabb standard elemzés
Mutassa ki a csillogó fémrészecskéket a szűrő egyetlen szkenneléssel

Gyorsabb részecskeosztályozás
Kombinálja a fény- és elektronmikroszkópiát egy zökkenőmentes munkafolyamatban

Gyorsabb döntéshozatal
Elemezze a kritikus részecskék kémiai összetételét a szennyezés forrásának beazonosításához

Gyorsabb dokumentálás
Készítsen egyetlen műveleti lépésben olyan tisztasági jegyzőkönyveket, amelyek megfelelnek az összes aktuális iparági előírásnak

Gyorsabb részecskevizsgálat
és ellenőrzés integrált gépi tanulási algoritmusokkal

Mit jelent a műszaki tisztaság?

A műszaki tisztaság fontos szerepet játszik, különösen azokon a területeken, ahol alkatrészeket gyártanak, ilyen például az elektrotechnika vagy az autóipar. Ha a részecskékre érzékeny pontokon szennyeződés keletkezik, az gyorsan működési zavarokhoz vagy akár működési hibákhoz is vezethet. Ha egy rendszerben a visszamaradt szennyeződés olyan alacsony szintű, hogy nem keletkezik károsodás, akkor az műszakilag tisztának tekinthető.

Különösen fontos a műszaki tisztaság az alábbi ágazatokban:

  • Autóipar és elektromos járművek
  • Gyógyászati iparág
  • Gépészet
  • Additív gyártás
  • Elektrotechnika és akkumulátorgyártás
  • Optikai ipar
  • Olajelemzés és hidraulika

Miért annyira fontos a műszaki tisztaság?

A technológiai fejlődésnek köszönhetően számos iparágban egyre összetettebb rendszerekre van szükség. Az autóiparban már az 1990-es években növekedett az olyan károsodások száma, amelyeket alkatrészen lévő szennyeződés okozott. Hamar világossá vált, hogy az eljárásokat standardizálni kell. A Német Autóipari Szövetség (VDA) úgynevezett „VDA 19 Irányelve”, másik nevén a „Technikai tisztaság vizsgálata – Funkcionálisan releváns gépjárműalkatrészek részecskeszennyeződése” című irányelv 2004-ben jelent meg, majd 2015-ben átdolgozták, és VDA 19 1. rész néven publikálták. Nemzetközi szinten az ISO 16232 (2007) alkotja a szabványos szabályrendszert. A 2010-es VDA 19 2. rész irányelveket tartalmaz, amelyek az összeszerelő gyártás tisztasági szempontú orientációjára vonatkoznak.

A VDA 19.1. rész pontosan meghatározza a szennyeződések különböző típusait. E meghatározások segítségével a szennyeződés tisztasági elemzésekkel és más műszaki tisztasági folyamatokkal kimutatható, valamint meghozhatók a megfelelő döntések. Az a cél, hogy az alkatrészeken visszamaradó szennyeződéseket megelőzzék.

Részecskék

Szálak

Az alábbi anyagokból származó szilárd testek

  • Fém
  • Műanyagok
  • Ásványok
  • Gyanták
  • Sók
  • A hosszúság szélességhez viszonyított aránya 1:20
  • Egy rost szélessége: ≤ 50 µm

Korrelációs részecskeelemzés a folyamat szempontjából kritikus szennyeződések jellemzésére

A beszállítók, a gyártók és a végfelhasználók egyre magasabb minőségi követelményeket támasztanak. Ezért elengedhetetlen egy innovatívan megtervezett tisztasági folyamat ahhoz, hogy a teljes gyártási folyamat során kizárható legyen a működés szempontjából fontos alkatrészek és komponensek bármilyen szennyeződése. A ZEISS műszaki tisztaságot célzó megoldásai azonosítják a szennyeződés kiváltó okát, és lehetővé teszik a megfelelő döntés gyorsabb meghozatalát.
  • ZEISS Technical Cleanliness Solutions, kiváltó ok
  • objektumosztályozás a ZEISS ZEN core műszaki tisztaságvizsgálatban
  • ZEISS Műszaki tisztaság munkafolyamat extrakcióval és szűréssel
  • Sikertörténetünkből megtudhatja, hogy egy osztrák nagymotor-gyártó miért vezetett be tíz évvel ezelőtt műszaki tisztasági szabványokat. Illetve miért játszik ebben kulcsszerepet a ZEISS EVO pásztázó elektronmikroszkóp.
    Megtalálni a tűt a szénakazalban
  • Hogyan azonosítjuk a kiváltó okot? ZEISS tisztaságvizsgálati megoldások
  • Növelje termelékenységet az objektumok osztályozását illetően a ZEISS ZEN core műszaki tisztaságvizsgálatban.
  • ZEISS Műszaki tisztaság munkafolyamat extrakcióval és szűréssel
Optimalizált folyamatok a műszaki tisztasági megoldások révén
Optimalizált folyamatok a műszaki tisztasági megoldások révén

Optimalizált folyamatok a műszaki tisztasági megoldások révén

Maximális tisztaság – Maximális minőség

A részecskeszennyezés minden termék hatékonyságának, működőképességének és élettartamának ellensége. Egy kutatás például kimutatta, hogy a hidraulikus, valamint az olajjal töltött rendszerek meghibásodásának fő forrása a részecskeszennyezés. Az olajelemzés segít a karbantartási költségek minimálisra csökkentésében és a gép üzemben töltött idejének javításában.

A gyártóipar igényeire szabva

A ZEISS műszaki tisztaság megoldásainak kifejlesztése autóipari gyártókkal és beszállítókkal együttműködve történt. Speciális követelményeik voltak a nagy teljesítményű, könnyen és intuitívan használható részecskeazonosító és -jellemző rendszerekkel szemben.

Ennek eredményeként a ZEISS megoldásai több telephelyen, bármilyen gyártási vagy ipari környezetben könnyen alkalmazhatók, továbbá mikroszkópiában nem járatos személyek is alkalmazhatják őket.

A ZEISS Technical Cleanliness Solutions megoldásai a bevált iparági standardok szerint működnek:

Alkatrészek műszaki tisztasága

Olajtisztaság

Gyógyászati eszközök tisztasága a gyártási folyamatban

VDS 19.1

ISO 4406

VDI 2083, 21. rész

VDA 19.2 (Illig-érték)

ISO 4007

ISO 16232

DIN 51455

SAE AS 4059

A nagyobb termelékenység érdekében az összes releváns adatot tartalmazó tisztasági jegyzőkönyvek létrehozásához a ZEISS mikroszkópok és a HYDAC extrakciós műszerek egy műveleti lépésben képesek az adatokat egyetlen zökkenőmentes munkafolyamatban összesíteni. Magazinunkban mindent megtudhat arról, hogyan integrálja a ZEISS a HYDAC készülékektől származó adatokat a jegyzőkönyvkészítésbe.

Lehetséges szennyezőforrások és alkalmazások

  • golyóscsapágy

    Mozgó alkatrészek közötti részecskék, pl. golyóscsapágy

  • befecskendező fúvóka

    Befecskendező fúvókákban lévő részecskék, pl. motorokból származók

  • részecskék az olajban

    Részecskék olajban és kenőanyagokban

  • részecskék elektromos érintkezők között

    Részecskék elektromos érintkezők között, pl. nyomtatott áramköri lap

  • részecskék fecskendőkben

    Részecskék fecskendőkben és implantátumokban

ZEISS One-Scan technológiával 50 százalékkal gyorsabb

Az innovatív ZEISS szoftveres megoldással még hatékonyabb
ZEISS One-Scan technológiával 50 százalékkal gyorsabb

A részecskék mennyiségi meghatározásán és méretük mérésén kívül a műszaki tisztaságra vonatkozó szabványok a fémesen csillogó és nem csillogó részecskék megkülönböztetését is megkövetelik. A hagyományos módszerek csak úgy tudják ezt a megkülönböztetést elvégezni, hogy a szűrőmembránt kétszer szkennelik, minden alkalommal eltérő polarizációs szűrővel és analizátorbeállítással. A díjnyertes ZEISS One-Scan technológiával ez most már egyetlen szkenneléssel is lehetséges, ami akár 50 százalékkal csökkenti az eredményhez szükséges időt. 2021 márciusában a Fraunhofer Institute for Manufacturing Engineering and Automation (IPA) a ZEISS One-Scan technológiáját a REINER! Fraunhofer Purity Technology Award díj első helyezésével jutalmazta.

kiértékelés ZEISS ZEN core műszaki tisztaságvizsgálattal
kiértékelés ZEISS ZEN core műszaki tisztaságvizsgálattal

A ZEISS ZEN core műszaki tisztaságvizsgálattal történő kiértékelés az alábbiakat foglalja magában:

  • Teljesen automatikus kiértékelés
  • A szemcsék méretére, hosszára, területére és koordinátáira vonatkozó információk
  • A fémesen csillogó és nem-csillogó részecskék megkülönböztetése a szűrőmembrán egyetlen szkennelésével elvégezhető
  • Méretosztályokba osztott szemcsék, a termék azonosítójával rendelkező pontfelhőként

Maximális termelékenység. Műszaki tisztaságvizsgálat útján

A ZEISS szoftver felgyorsítja a részecskék gépi tanulással történő osztályozását.

A műszaki tisztaság az ipari mikroszkópia területén a ZEN core szoftverportfólió része. A részecskék osztályozásának optimalizálása érdekében a ZEISS a ZEISS ZEN core felhasználóinak a műszaki tisztaságvizsgálatot („TCA”) három előre betanított, gépi tanuláson alapuló modullal kínálja. Ez a modul lehetővé teszi a részecskék osztályozását egy elemzett kép mért paraméterei alapján. A minták elemzése három előre betanított gépi tanulási modell segítségével történik, amelyeket a felhasználók és az ügyfelek még tovább taníthatnak. A minták elemzése szürkeárnyalat-meghatározással történik, az objektumosztályozásra előre betanított gépi tanulási modell pedig a háttérben fut az új TCA munkasablonokban, miközben a típusosztályozás ellenőrzése párhuzamosan, a meglévő részecskemérési eredmények alapján történik. A típusosztályozásnak ez a gépi tanulási algoritmusok segítségével történő további ellenőrzése „megnézi” a többek között a méret, alak, intenzitás és típusosztályozás klasszikus elemzésével kapott részecskeeredményeket, majd a különböző jellemzőket nagy számú, egymással nem korreláló döntési fává kombinálja. Az eredményeket minden egyes döntési fa esetében külön-külön értékeli a rendszer az objektumosztályozási modellhez betanított osztályozás segítségével. Ennek a részecsketípus automatikus előrejelzése az eredménye.

Növelje a termelékenységet a ZEISS Műszaki tisztaság objektumosztályozásával:

A sötét fémes alkatrészek téves osztályozásának akár 50%-os csökkenése és akár 25%-os időmegtakarítás
Növelje a termelékenységet a ZEISS Műszaki tisztaság objektumosztályozásával
Növelje a termelékenységet a ZEISS Műszaki tisztaság objektumosztályozásával

Objektumosztályozással készült és anélküli részecskekép összehasonlítása: pl. 10 minta esetén ez 3,5 óra/nap potenciális időmegtakarítást jelent.

Kétkamerás támogatás

A különböző elemzési alkalmazásokkal, pl. metallográfiával és műszaki tisztaságvizsgálattal is foglalkozó ügyfeleknek és laboratóriumoknak különböző kameramódokra, polarizációra és színes nézetre is szükségük van egyetlen munkafolyamatban. A ZEISS Axiocam 705pol kamerát és Axiocam színes kamerát használó kétkamerás támogatás az alábbi előnyöket nyújtja a mikroszkópok felhasználói számára: 

  • A polarizációs csatornák élő átkapcsolása a fémes részecskék vagy a fényesen csillogó metallográfiai minták jobb vizuális azonosításához
  • Élő színes nézet a részecskék gyors vizsgálatához és a lehetséges kiváltó ok beazonosításához. Színes kamera metallográfiai minta elemzéséhez és vizsgálatához.

Előnyök az Ön számára:

  • Teljes körű rugalmasság számos alkalmazási területen
  • Közvetlen átváltás két kamera között
  • Termelékenységnövekedés és nagyobb folyamatbiztonság a jobb eredmények érdekében
     

Műszaki tisztaság ellenőrzése a legmagasabb ipari normák alapján

A ZEISS termékportfólió lehetővé teszi a kombinált részecskefelismerést és -osztályozást egy rendkívül hatékony munkafolyamatban, amely nemcsak megtalálja a részecskéket, hanem osztályozza is azokat a szennyeződés eredete szerint. A ZEISS segítségével egy munkafolyamatban kombinálhatja a fény- és elektronmikroszkópokból származó adatokat, hogy további információkat nyerjen. Ily módon megalapozott betekintést nyer a szennyeződés forrásába.
  • Műszaki tisztaság ellenőrzése a legmagasabb ipari normák alapján

Átfogó műszaki tisztaság a ZEISS-nek köszönhetően

Fénymikroszkóp-rendszerek

Ismerje fel a potenciális szennyezési veszélyeket

Különböztesse meg a részecskéket mennyiség, méreteloszlás és morfológia szerint, és különítse el a fémes és a nem fémes részecskéket, valamint a rostokat egészen 2 μm nagyságig. Készítsen tisztasági jegyzőkönyveket az iparági standardoknak megfelelően.

Korrelációs részecskeelemzés

Hozzon létre fejlett elemzési munkafolyamatokat

Jellemezze a folyamat szempontjából kritikus részecskéket, és azonosítsa a kritikus részecskéket korrelációs mikroszkópia segítségével, amely egyetlen munkafolyamatban kombinálja a fény- és elektronmikroszkópból származó adatokat.

Elektronmikroszkópia és EDS rendszerek

Határozza meg a szennyezés forrásait

Mérje meg a részecskék morfológiai jellemzőit, és használja a teljesen automatizált elemanalízist a részecskék kémiai összetétel szerinti osztályozásához. A ZEISS SmartPI, az elektronmikroszkópokhoz való részecskeelemző szoftver automatizálja a részecskék felismerését, elemzését és osztályozását, egyetlen alkalmazásban egyesítve a mikroszkóp vezérlését, a képfeldolgozást és az elemanalízist.

Műszaki tisztasághoz alkalmazott ZEISS fény- és elektronmikroszkópok

Lépjen be a műszaki tisztaság új korszakába a ZEISS-szel

A ZEISS ipari méréstechnikai megoldásainak előnyei:

  • Gyorsabb elemzések és döntések a legújabb méréstechnológiával
  • Műszaki tisztaságvizsgálat a termelésben, az elektrotechnikában, az autóiparban és még sok más területen
  • Részecskemérés a kialakult iparági standardok szerint (pl. VDA 19.1, ISO 16232)
  • Maradványszennyezés a megalapozott tisztasági tesztek szerint
  • Tesztelés és tisztasági elemzés standardizált extrakciós eljárások szerint
  • Szolgáltatások széles skálája: a karbantartástól, szervizeléstől és pótalkatrészektől a szoftver- és hardverfrissítésekig, kalibrálásig, tervezésig és tanácsadásig
  • Támogatás Önnek és alkalmazottainak minden méréstechnikai kihíváshoz a ZEISS Metrology Academy képzésein és oktatásain keresztül

További információkra van szüksége a ZEISS műszaki tisztaság megoldásairól?

Töltse ki az alábbi űrlapot a műszaki tisztasággal kapcsolatos brosúra letöltéséhez.
ZEISS tisztaságvizsgálati megoldások

Űrlap betöltése folyamatban...

Ha további információkat szeretne kapni a ZEISS-nél történő adatfeldolgozásról, kérjük, olvassa el Adatvédelmi nyilatkozatunkat.

További információk letöltése



Kapcsolatfelvétel

Érdekli termékeink vagy szolgáltatásaink további megismerése? Örömmel állunk rendelkezésére további részletekkel vagy egy élő bemutatóval, akár távolról, akár személyesen.

További információra van szüksége?

Vegye fel velünk a kapcsolatot. Szakértőink visszahívják Önt.

Űrlap betöltése folyamatban...

/ 4
Következő lépés:
  • Érdeklődés Érdeklődés
  • Személyes adatok
  • A vállalat részletei

Ha további információra van szüksége a ZEISS adatkezeléséről, olvassa el az adatvédelmi tájékoztatót